[实用新型]单片晶圆清洗装置清洗盘结构有效
| 申请号: | 202120477189.9 | 申请日: | 2021-03-04 |
| 公开(公告)号: | CN214254367U | 公开(公告)日: | 2021-09-21 |
| 发明(设计)人: | 钱诚;李文亭;朱震 | 申请(专利权)人: | 亚电科技南京有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京商专润文专利代理事务所(普通合伙) 11317 | 代理人: | 陈平 |
| 地址: | 210000 江苏省南京市江宁区双龙*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 单片 清洗 装置 盘结 | ||
1.一种单片晶圆清洗装置清洗盘结构,其特征在于,包括:
支撑盘(2),能够旋转,用于支撑固定晶圆,所述支撑盘(2)底部与转轴(25)连接,转轴(25)能够转动,进而使支撑盘(2)发生转动,所述支撑盘(2)中间具有空腔(24),所述转轴(25)中间为通道,所述通道能够通入加热后的氮气,所述支撑盘(2)的盘面上具有若干晶圆支撑柱(21),所述支撑盘(2)的盘面上还开设有通孔(22),加热后的氮气或者惰性气体从转轴(25)中间的通道经过空腔(24)从通孔(22)喷出,以加热晶圆并在晶圆底部形成气流防止清洗液流入晶圆底面;
清洗液喷管(3),能够旋转使喷口位于晶圆上方或者位于清洗液喷溢流口上方,所述清洗液喷管(3)为并列的若干根;
清水喷管(4),能够旋转使喷口位于晶圆上方或者位于清水溢流口(41)上方,所述清水喷管(4)喷出清水;
挡板(6),设置于所述支撑盘(2)外围,能够升起或者下降,升起时用于阻挡从晶圆四周散开的清洗液或者清水。
2.根据权利要求1所述的单片晶圆清洗装置清洗盘结构,其特征在于,还包括紧急清水喷管(5),所述紧急清水喷管(5)为常开状态,一直有清水流出,在普通状态时清水从所述紧急清水喷管(5)流出后,由紧急清水承接盘(51)承接并排出紧急清水,当发生紧急状态时,紧急清水喷管(5)能够快速喷出清水,直接对晶圆(9)进行清洗。
3.根据权利要求1或2所述的单片晶圆清洗装置清洗盘结构,其特征在于,通孔(22)分布于支撑盘(2)上,且沿着支撑盘(2)成若干圆周状排列。
4.根据权利要求3所述的单片晶圆清洗装置清洗盘结构,其特征在于,支撑盘(2)的外缘设置有圆周状排列的通孔(22)。
5.根据权利要求1所述的单片晶圆清洗装置清洗盘结构,其特征在于,所述支撑盘(2)的空腔(24)内还设置若干加热器,以加热氮气。
6.根据权利要求1所述的单片晶圆清洗装置清洗盘结构,其特征在于,清洗时,所述清洗液喷管(3)和清水喷管(4)在对准晶圆的圆心处上方到对准晶圆的边缘处上方之间摆动。
7.根据权利要求1所述的单片晶圆清洗装置清洗盘结构,其特征在于,所述清洗液喷管(3)为三根,每根清洗液喷管(3)能够喷出SPM清洗液、SC-1清洗液或者SC-2清洗液中的一种。
8.根据权利要求7所述的单片晶圆清洗装置清洗盘结构,其特征在于,所述挡板(6)实际为筒状,由层状布置的从外到内的第一挡板(61)、第二挡板(62)和第三挡板(63)构成,在清洗液喷管(3)工作时,仅有第一挡板(61)、第二挡板(62)和第三挡板(63)中一个升起以阻挡飞溅的清洗液。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





