[实用新型]一种日用陶瓷口沿高度差和外口径差的测量装置有效

专利信息
申请号: 202120452649.2 申请日: 2021-03-03
公开(公告)号: CN214173270U 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 曹利钢;沈家祥;冯浩;王小平;王俊祥;陈文鑫 申请(专利权)人: 景德镇陶瓷大学
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;G01B11/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 333000 *** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 日用陶瓷 高度 口径 测量 装置
【说明书】:

本实用新型公开了一种日用陶瓷口沿高度差和外口径差的测量装置,所述测量装置包括箱体(1)、载物部件(2)、控制器部件(3)、进给部件、检测部件、相机(6)、光源部件,用户仅需将待测日用陶瓷放在载物部件(2)上,通过相机(6)拍摄日用陶瓷的外轮廓和位置,通过控制器部件(3)和进给部件将检测部件分别移动到指定位置,通过采集日用陶瓷口沿高度和外口径测量数据,快速获得日用陶瓷的口沿高度差值和外口径差值,极大的提高了日用陶瓷外观缺陷的检测效率,因此具有广阔的市场前景。

技术领域

本实用新型属于日用陶瓷检测技术领域,具体涉及一种日用陶瓷口沿高度差和外口径差的测量装置。

背景技术

在日用陶瓷器变形检测方法中,规定了口沿高度差和外口径差作为衡量日用陶瓷器变形的指标。口沿高度差指的是口沿上的点相对于基准面的最大高度和最小高度之差,而外口径差指的是口沿上对应点所形成的最大直径与最小直径之差。

当前,对于这两种指标的检测,主要是依靠人工完成,即在一个基准平面上,转动待测日用陶瓷器,依靠量具观察口沿高度和口径的值。这种测量方法会存在以下问题:

1)测量精度受较多主观因素影响。比如:量具摆放倾斜、人观察的角度变化、环境光线变化等主观因素影响人的观察结果,这些都会对最终的测量精度产生影响,测量过程中难以做到对口沿所有点都进行精确测量,测量精度稳定性较差。

2)测量过程需要手动旋转陶瓷器,对于不同器形的日用陶瓷器要采用不同的量具,口沿高度差的测量与外口径差的测量不能同时进行,这些因素导致日用陶瓷器测量过程中效率较低,测量实施过程比较麻烦。

发明内容

本实用新型为克服上述现有技术问题,提供一种结构新颖、使用便捷、安全可靠的日用陶瓷口沿高度差和外口径差的测量装置。

本实用新型的技术方案是:一种日用陶瓷口沿高度差和外口径差的测量装置,所述测量装置包括箱体、载物部件、控制器部件、进给部件、检测部件、相机、光源部件,

所述箱体为长方体结构,其底部设置有底板一,后部设置有背板、左部设置有左侧板、右部设置有右侧板、顶部设置有顶板、前部设置有左前板和右前板,所述左前板的左端活动安装在左侧板的前端上,右前板的右端活动安装在右侧板的前端上;

所述载物部件由转台、真空吸嘴、真空泵构成,所述真空吸嘴设置在转台顶部,真空泵设置在转台内部,所述真空吸嘴与真空泵设置有连接管;

所述控制器部件由STM32单片机、NanoPC-T4主机、显示屏、按键、光源控制器构成,所述STM32单片机、显示屏、按键分别通过信号线与NanoPC-T4主机相连接,所述光源控制器通过信号线与光源部件相连接;

所述进给部件由给进装置一、给进装置二、给进装置三、给进装置四组成,

所述给进装置一由步进电机一、联轴器一、丝杆一、运动块一、支架一、水平限位开关一构成,所述支架一包括底板二、侧板一、侧板二、中板一,所述底板二顶部设置有燕尾凸槽一,所述运动块一底部设置有凹槽一,顶部设置有带内螺纹的孔洞,中部设置有带内螺纹的通孔;所述步进电机一设置在侧板一的外侧,联轴器一设置在侧板一和中板一之间,丝杆一设置在中板一和侧板二之间,所述步进电机一通过联轴器一与丝杆一相连接,所述运动块一通过通孔设置在丝杆一上,其底部凹槽一与燕尾凸槽一相互配合,所述水平限位开关一设置在侧板二内侧上部;

所述给进装置二由步进电机二、联轴器二、丝杆二、运动块二、支架二、水平限位开关二构成,所述支架二包括底板三、侧板三、侧板四、中板二,所述底板三顶部设置有燕尾凸槽二,所述运动块二底部设置有凹槽二,顶部设置有带内螺纹的孔洞,中部设置有带内螺纹的通孔;所述步进电机二设置在侧板三的外侧,联轴器二设置在侧板三和中板二之间,丝杆二设置在中板二和侧板四之间,所述步进电机二通过联轴器二与丝杆二相连接,所述运动块二通过通孔设置在丝杆二上,其底部凹槽二与燕尾凸槽二相互配合,所述水平限位开关二设置在侧板四内侧上部;

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