[实用新型]光谱芯片及包含光谱芯片的光谱装置

说明书

本实用新型涉及光谱芯片及包含光谱芯片的光谱装置，该光谱芯片包括：滤光薄膜，用于对来自入射光源的光进行分光；基底，所述滤光薄膜设置于所述基底上；以及芯片靶面，所述基底的设置有所述滤光薄膜的一侧附着在所述芯片靶面上，所述芯片靶面用于接收自所述滤光薄膜透射出的光并输出作为自所述滤光薄膜透射出的光的强度的信号，所述信号被用于获得所述光谱芯片的检测结果。本实用新型的光谱芯片能够用于光谱检测，并且通过所设置的基底能够保护滤光薄膜不被损毁和污染并在一定程度上能够滤除干扰信号，由此能够改善光谱芯片的寿命并提高检测精度。

技术领域

本实用新型涉及光学技术领域，尤其涉及一种光谱芯片及包含光谱芯片的光谱装置。

背景技术

相关技术中，光谱仪通常采用多通道阵列式传感器，其通过诸如微透镜阵列、小孔、扩散片、复眼匀光、匀光棒等的复杂光学结构来提高光的强度空间分布的均匀性。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提出了一种光谱芯片及包含光谱芯片的光谱装置。

为了解决上述技术问题，根据本实用新型的一实施例，提供了一种光谱芯片，其包括：

滤光薄膜，用于对来自入射光源的光进行分光；

基底，所述滤光薄膜设置于所述基底上；以及

芯片靶面，所述基底的设置有所述滤光薄膜的一侧附着在所述芯片靶面上，所述芯片靶面用于接收自所述滤光薄膜透射出的光并输出作为自所述滤光薄膜透射出的光的强度的信号，所述信号被用于获得所述光谱芯片的检测结果。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，所述滤光薄膜包括：

第一区域，其布设有量子点，所述第一区域位于所述滤光薄膜的与所述基底的第一基底位置相对应的第一位置处；以及

第二区域，其位于所述滤光薄膜的与所述基底的第二基底位置相对应的第二位置处，其中所述第一位置不同于所述第二位置。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，所述第二区域未布设有量子点。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，所述第二区域包括能够遮挡光而使所有光均无法透射出的非透光结构和能够使预定量的光透射出的透光结构。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，至少一个所述第一区域的周围布设有至少一个所述第二区域。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，

在与至少一个所述第一区域间隔相应距离的外接矩形的四条边的至少一条边的相应位置处设置至少一个所述第二区域；和/或

在与至少一个所述第一区域间隔相应距离的外接矩形的四个顶点的至少一个顶点的相应位置处设置至少一个所述第二区域。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，至少一个所述第一区域组成的区块被多个所述第二区域环绕。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，至少一个所述第二区域组成的区块被多个所述第一区域环绕。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，多个所述第二区域被连续地排布和/或非均匀地排布。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，所述第一区域和/或所述第二区域的形状包括矩形、圆形、条带、菱形、多边形中的至少一项。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，所述第一区域的形状与所述第二区域的形状相同，或所述第一区域的形状不同于所述第二区域的形状。

对于上述光谱芯片，在一种可能的实现方式中，所述第一区域的尺寸与所述第二区域的尺寸相同，或所述第一区域的尺寸不同于所述第二区域的尺寸。