[发明专利]缺陷检测方法、装置、光学成像系统、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、光学成像系统、设备及存储介质，涉及玻璃盖板缺陷检测技术领域，解决了现有技术中电子产品的玻璃盖板检测行业的AOI设备不够成熟，无法有效检测玻璃盖板的黑斑缺陷的技术问题。该方法包括：获取红外光源对待检测的玻璃盖板照射得到的玻璃盖板的反射光图像；对反射光图像进行背景均匀化和缺陷增强处理，以增大反射光图像中背景和缺陷的对比度的差值；在进行背景均匀化和缺陷增强处理后的图像中提取缺陷区域；根据缺陷区域的图像特征判断缺陷区域的缺陷是否为黑斑缺陷。

技术领域

本发明涉及玻璃盖板缺陷检测技术领域，尤其涉及一种用于检测手机等电子产品的玻璃盖板的黑斑缺陷的缺陷检测方法、装置、光学成像系统、设备及存储介质。

背景技术

目前，手机等电子产品的玻璃盖板的制造过程包括开料、精雕、CNC（ComputerNumerical Control，数控机床）加工、平磨、丝印等工序，每个工序都会产生各种各样的外观缺陷。因而会在相对应的工序安排检验员人工检验，最直接的检验工序就是平检、白片、成品和包装。这四大检验工序投入了大量的人力资源，而人工检验受到产量和情绪的影响，实际的检验效果并不理想。

随着科技的发展，针对玻璃盖板的外观缺陷检验，逐渐发展成为用设备代替，称之为AOI（Automatic Optical Inspection，自动光学检测）设备。不同于PCB（PrintedCircuit Board，印制电路板）行业的AOI设备，用于电子产品的玻璃盖板检测行业的AOI设备主要是通过光源成像、图像处理、信号增益和阈值设定来获取到缺陷图像，再通过特征描述分类出缺陷种类，进而再进行等级质量的划分。

由于此行业的AOI设备不够成熟，并且产品结构不一致、缺陷多样化。此AOI设备还不能完全检验出所有缺陷，主要有弧划、轻微面划、直身位崩边、短边凹凸、同性异色、弧边不均、台阶、棱线等检测能力弱的缺陷，这方面会造成产品的大量漏检，其中有一种黑斑缺陷，肉眼无法准确识别出来，而一旦进行组装和点亮，会在手机等电子产品的屏幕上呈现黑色的暗斑，而这种黑斑缺陷采用普通的光源无法成像，目前没有有效的检测黑斑缺陷的方法。

因此，如何有效检测手机等电子产品的玻璃盖板的黑斑缺陷，是目前本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供了一种缺陷检测方法、装置、光学成像系统、设备及存储介质，解决了现有技术中电子产品的玻璃盖板检测行业的AOI设备不够成熟，无法有效检测玻璃盖板的黑斑缺陷的技术问题。

第一方面，本发明提供了一种缺陷检测方法，包括：

获取红外光源对待检测的玻璃盖板照射得到的所述玻璃盖板的反射光图像；

对所述反射光图像进行背景均匀化和缺陷增强处理，以增大所述反射光图像中背景和缺陷的对比度的差值；

在进行背景均匀化和缺陷增强处理后的图像中提取缺陷区域；

根据所述缺陷区域的图像特征判断所述缺陷区域的缺陷是否为黑斑缺陷。

优选地，所述对所述反射光图像进行背景均匀化和缺陷增强处理，以增大所述反射光图像中背景和缺陷的对比度的差值包括：

一次增强处理：根据设定的第一目标灰度值对所述反射光图像进行图像增强处理得到缺陷增强图像，其中，所述图像增强处理的计算公式如下：

B1=（A1-X1）*Y1+X1 公式1

其中，B1表示增强后的图像中像素点的灰度值，A1表示反射光图像中像素点的原始灰度值，X1表示设定的用于将背景均匀化的第一目标灰度值，Y1表示第一倍数系数；