[发明专利]缺陷检测方法、装置、光学成像系统、设备及存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取红外光源对待检测的玻璃盖板照射得到的所述玻璃盖板的反射光图像；

对所述反射光图像进行背景均匀化和缺陷增强处理，以增大所述反射光图像中背景和缺陷的对比度的差值；

在进行背景均匀化和缺陷增强处理后的图像中提取缺陷区域；

根据所述缺陷区域的图像特征判断所述缺陷区域的缺陷是否为黑斑缺陷；

其中，所述对所述反射光图像进行背景均匀化和缺陷增强处理，以增大所述反射光图像中背景和缺陷的对比度的差值包括：

一次增强处理：根据设定的第一目标灰度值对所述反射光图像进行图像增强处理得到缺陷增强图像，其中，所述图像增强处理的计算公式如下：

B1=（A1-X1）*Y1+X1 公式1

其中，B1表示增强后的图像中像素点的灰度值，A1表示反射光图像中像素点的原始灰度值，X1表示设定的用于将背景均匀化的第一目标灰度值，Y1表示第一倍数系数；

背景均匀化处理：设定第二目标灰度值、上限灰度值、下限灰度值和卷积核，采用高通滤波方式将所述缺陷增强图像中灰度值处于所述上限灰度值和下限灰度值之间的像素点的灰度值朝所述第二目标灰度值进行处理得到背景均匀化图像；

二次增强处理：根据设定的第三目标灰度值对所述背景均匀化图像进行图像再增强处理得到缺陷再增强图像，其中，所述图像再增强处理的计算公式如下：

B2=（A2-X2）*Y2+X2 公式2

其中，B2表示再增强后的图像中像素点的灰度值，A2表示背景均匀化图像中像素点的灰度值，X2表示设定的用于使缺陷再增强的第三目标灰度值，Y2表示第二倍数系数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在进行背景均匀化和缺陷增强处理后的图像中提取缺陷区域包括：

设定用于提取缺陷区域的灰度值范围；

提取所述进行背景均匀化和缺陷增强处理后的图像中像素点的灰度值满足所述灰度值范围的图像区域作为缺陷区域。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述缺陷区域的图像特征判断所述缺陷区域的缺陷是否为黑斑缺陷包括：

将所述缺陷区域的图像特征和预设的黑斑缺陷判断条件进行匹配，若所述缺陷区域的图像特征满足所述黑斑缺陷判断条件，则将所述缺陷区域的缺陷判定为黑斑缺陷，其中，

所述缺陷区域的图像特征至少包括以下特征之一：

缺陷面积、灰度值、填充度、似圆度。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，在获取红外光源对待检测的玻璃盖板照射得到的所述玻璃盖板的反射光图像之前，所述方法还包括：

调节所述红外光源的出射光线强弱，以使通过所述红外光源对待检测的玻璃盖板照射得到的所述玻璃盖板的反射光图像中背景和缺陷的灰度值之差满足预设阈值。