[发明专利]一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质在审
申请号: | 202111567236.X | 申请日: | 2021-12-20 |
公开(公告)号: | CN114492266A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 王聪 | 申请(专利权)人: | 海光信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/331 | 分类号: | G06F30/331;G06F11/36;G06F115/02 |
代理公司: | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人: | 张仲波 |
地址: | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 验证 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种芯片验证方法,其特征在于,包括:
监测对被验证芯片的验证操作的操作进度,所述验证操作包括以下至少一项:验证环境初始化操作、测试用例仿真操作;
根据所述操作进度,在所述验证操作开始后至所述验证操作结束前的预设时间点设置检查点,并记录所述检查点对应的电路仿真状态;
根据仿真指令,从所述检查点开始,基于所述电路仿真状态重新对所述被验证芯片进行验证操作。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述监测对被验证芯片的验证操作的操作进度包括:
通过监测调用测试用例的预设函数,监测所述验证操作的操作进度;
所述根据所述操作进度,在所述验证操作开始后至所述验证操作结束前的预设时间点设置检查点,并记录所述检查点对应的电路仿真状态包括:
当监测到所述预设函数调用测试用例时,在所述验证操作中设置所述检查点,并记录所述检查点对应的电路仿真状态。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述监测对被验证芯片的验证操作的操作进度包括:
加载所述验证操作对应的已编译文件,所述已编译文件包括至少两个已编译子文件,各所述已编译子文件根据仿真时间的先后划分;
通过监测各所述已编译子文件是否已被执行,监测所述验证操作的操作进度。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述操作进度,在所述验证操作开始后至所述验证操作结束前的预设时间点设置检查点,并记录所述检查点对应的电路仿真状态包括:
当监测到预设已编译子文件执行结束或即将开始执行时,在所述验证操作中设置所述检查点,并记录所述检查点对应的电路仿真状态。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述预设已编译子文件的数量为一个或多个,所述检查点的数量与所述预设已编译子文件的数量相对应。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述操作进度,在所述验证操作开始后至所述验证操作结束前的预设时间点设置检查点,并记录所述检查点对应的电路仿真状态包括:根据所述操作进度,在所述验证操作开始后至所述验证操作结束前的至少两个时间点设置检查点,并记录所述检查点对应的电路仿真状态;
所述根据仿真指令,从所述检查点开始,基于所述电路仿真状态重新对所述被验证芯片进行验证操作包括:
根据所述仿真指令,从所述至少两个时间点对应的检查点中,选择一个目标检查点;
从所述目标检查点开始,基于所述目标检查点对应的电路仿真状态重新对所述被验证芯片进行验证操作。
7.一种芯片验证装置,其特征在于,包括:
监测单元,用于监测对被验证芯片的验证操作的操作进度,所述验证操作包括以下至少一项:验证环境初始化操作、测试用例仿真操作;
设置单元,用于根据所述操作进度,在所述验证操作开始后至所述验证操作结束前的预设时间点设置检查点,并记录所述检查点对应的电路仿真状态;
重验证单元,用于根据仿真指令,从所述检查点开始,基于所述电路仿真状态重新对所述被验证芯片进行验证操作。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述监测单元,具体用于通过监测调用测试用例的预设函数,监测所述验证操作的操作进度;
所述设置单元,具体用于当监测到所述预设函数调用测试用例时,在所述验证操作中设置所述检查点,并记录所述检查点对应的电路仿真状态。
9.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述监测单元包括:
加载模块,用于加载所述验证操作对应的已编译文件,所述已编译文件包括至少两个已编译子文件,各所述已编译子文件根据仿真时间的先后划分;
监测模块,用于通过监测各所述已编译子文件是否已被执行,监测所述验证操作的操作进度。
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