[发明专利]用于检测设备的算法控制方法及用于分析检测结果的方法

说明书

本申请公开了一种用于检测设备的算法控制方法及用于分析检测结果的方法，应用于检测设备，该检测设备包括多个图像采集装置，每个图像采集装置配置有对应的检测算法，每个检测算法用于处理对应的图像采集装置所采集的图像，该算法控制方法包括：判断多个图像采集装置所对应的检测算法中是否存在被设置为跳过的目标检测算法；以及在存在目标检测算法的情况下，在运行检测算法进行图像处理时禁止执行目标检测算法。本申请通过对部分检测算法进行跳过，忽略被跳过算法的输出结果影响整体检测结果，进而更容易地排查出异常的检测算法或图像采集装置，提高检测效率。

技术领域

本申请涉及器件检测技术领域，具体地涉及一种用于检测设备的算法控制方法及用于分析检测结果的方法。

背景技术

通常，器件被生产制造出来后，需要在出厂前进行缺陷的检测，以剔除质量有瑕疵的器件，器件的缺陷检测一般需要借助专门的检测设备来完成。随着科技的不断发展，各种器件的结构复杂度、以及器件的生产能力也在不断提升，相应地，也就对器件的检测设备提出了更高的要求。

为了对器件进行检测，检测设备可能对器件进行拍照、扫描等多种检测操作，最后还会对器件进行下料操作。检测设备通过分析采集的图像确定器件是否出现破损、溢胶、包含异物等缺陷。检测设备中包含多个图像采集装置，用于从不同角度对器件进行图像采集。对于不同的图像采集装置采集的图像，系统中的算法会对图像进行处理和分析。由于器件不同表面的结构、材质可能都是不同的，可能出现的缺陷也是不同的。相应地，对不同图像进行处理的算法逻辑也不同。例如，假设器件的形状为六面体，检测设备中将包含6个图像采集装置，对六面体器件的6个表面分别进行图像采集。通常情况下，对于一个器件进行图像采集的6个图像，会有6个检测算法来分别处理。如果有1个检测算法输出的结果为有瑕疵，即认为整个器件为次品。在实际应用中，可能会因为某个检测算法或者某个图像采集装置出现异常，而导致检测设备对很多器件输出的最终检测结果均为次品。在现有技术中，如果在检测或调试过程中出现了大量次品，在短时间内无法判断是否是图像采集装置或对应的检测算法出现异常，难以定位具体的问题，从而导致检测效率较低的问题。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种用于检测设备的算法控制方法及用于分析检测结果的方法，用以解决现有技术在出现大量次品的情况下，因为无法快速定位问题而导致检测效率较低的问题。

为了实现上述目的，本申请第一方面提供一种用于检测设备的算法控制方法，该检测设备包括多个图像采集装置，每个图像采集装置配置有对应的检测算法，每个检测算法用于处理对应的图像采集装置所采集的图像，该算法控制方法包括：

判断多个图像采集装置所对应的检测算法中是否存在被设置为跳过的目标检测算法；以及

在存在目标检测算法的情况下，在运行检测算法进行图像处理时禁止执行目标检测算法。

在本申请实施例中，还包括：

在运行检测算法进行图像处理时，获取每个检测算法的检测结果；

根据每个检测算法的检测结果确定器件的检测结果。

在本申请实施例中，根据每个检测算法的检测结果确定采集对象的检测结果包括：

将每个检测算法的检测结果进行与运算；

根据与运算的结果确定器件的检测结果。

在本申请实施例中，在运行检测算法进行图像处理时，每个检测算法输出的结果为第一结果或第二结果，其中，第一结果表示正常，第二结果表示异常，并且算法控制方法还包括：

在运行检测算法进行图像处理时，根据每个检测算法的检测结果确定器件的检测结果，其中，将目标检测算法的检测结果设置为第一结果，其他检测算法根据实际检测情况输出检测结果。