[发明专利]用于检测设备的算法编辑方法、装置及检测设备

说明书

本申请公开了一种用于检测设备的算法编辑方法、装置及检测设备。该算法编辑方法包括：在算子展示区域展示多个预先封装好的算子；根据输入的选择指令在算子编辑区域创建目标算子的编辑控件，目标算子为算子展示区域中被选择的算子；根据输入的配置参数配置目标算子；根据在算子运行区域输入的运行指令运行目标算子；在结果展示区域展示目标算子对应的运行结果。这样，基于预先封装好的算子进行组合，从而完成算法的编辑，能够避免开发人员手动编写大量代码，有效节省了人力和时间。

技术领域

本申请涉及器件检测技术领域，具体地涉及一种用于检测设备的算法编辑方法、装置及检测设备。

背景技术

通常，器件被生产制造出来后，需要在出厂前进行缺陷的检测，以剔除质量有瑕疵的器件，器件的缺陷检测一般需要借助专门的检测设备来完成。随着科技的不断发展，各种器件的结构复杂度、以及器件的生产能力也在不断提升，相应地，也就对器件的检测设备提出了更高的要求。

为了对器件进行检测，检测设备可能对器件进行拍照、扫描等多种检测操作，最后还会对器件进行下料操作。检测设备通过分析采集的图像确定器件是否出现破损、溢胶、包含异物等缺陷。检测设备中包含多个图像采集装置，用于从不同角度对器件进行图像采集。对于不同的图像采集装置采集的图像，系统中的算法会对图像进行处理和分析。由于器件不同表面的结构、材质可能都是不同的，可能出现的缺陷也是不同的。例如，1号图像采集装置采集的图像中，器件表面可能出现溢胶或存在异物的问题，对应处理1号图像采集装置的图像的检测算法就要对溢胶和露铜这两个缺陷进行检测；而2号图像采集的图像中，可能出现引脚露铜和引脚高度异常的问题，对应处理2号图像采集装置的图像的检测算法就需要进行引脚露铜和引脚高度检测。由于对应不同图像采集装置的检测算法所要检测的缺陷是不同的，而且对应每个图像采集装置的检测算法可能需要检测多个缺陷，每个检测算法的具体逻辑基本都需要工作人员手动编写，从而导致算法编辑的工作量非常大，耗费大量的人力和时间。因此，现有技术中对于检测算法的编辑费时费力，效率较低。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种用于检测设备的算法编辑方法、装置及检测设备，用以解决现有技术中对于检测算法的编辑费时费力，效率较低的问题。

为了实现上述目的，本申请第一方面提供一种用于检测设备的算法编辑方法，应用于检测设备，该检测设备包括显示界面，显示界面包括算子展示区域、算子编辑区域、算子运行区域和结果展示区域，该算法编辑方法包括：

在算子展示区域展示多个预先封装好的算子；

根据输入的选择指令在算子编辑区域创建目标算子的编辑控件，目标算子为算子展示区域中被选择的算子；

根据输入的配置参数配置目标算子；

根据在算子运行区域输入的运行指令运行目标算子；

在结果展示区域展示目标算子对应的运行结果。

在本申请实施例中，根据输入的配置参数配置目标算子包括：

获取以字符和/或游标拖拽方式输入的配置参数；

根据输入的配置参数配置目标算子。

在本申请实施例中，根据输入的配置参数配置目标算子包括：

根据输入的编辑指令对目标算子的对应的检测区域进行编辑。

在本申请实施例中，根据在算子运行区域输入的运行指令运行目标算子包括：

获取输入的选择目录指令；

根据选择目录指令确定各个目标算子运行时所要处理的目标图片；

根据运行指令运行对目标图片运行对应的目标算子。

在本申请实施例中，根据在算子运行区域输入的运行指令运行目标算子包括：