[发明专利]模拟地外空间热环境对天体表层矿物微观结构改造的方法

权利要求书

1.模拟地外空间热环境对天体表层矿物微观结构改造的方法，其特征在于，包括以下步骤：

（1）利用双束电镜的原位制样功能将地外样品的微区目标提取出来，将提取出的样品固定在加热芯片的观测窗口，制成透射电镜样品；

（2）将透射电镜样品的加热芯片安装于透射电镜配备的加热样品杆上，然后置于透射电镜的样品腔内，密闭透射电镜的样品腔并抽真空；通过透射电镜的原位加热技术来模拟地外天体表面的热演化过程，并在热演化过程中实时观测样品中矿物相的微观结构；

所述通过透射电镜的原位加热技术来模拟地外天体表面的热演化过程，是指通过对加热样品杆通电或断电控制加热芯片升温、保温或降温，使加热芯片上的样品升温、保温或降温以模拟地外天体表面的热演化过程。

2.根据权利要求1所述模拟地外空间热环境对天体表层矿物微观结构改造的方法，其特征在于，步骤（2）中控制加热芯片的温度不超过透射电镜样品中待观测矿物相的熔点。

3.根据权利要求1所述模拟地外空间热环境对天体表层矿物微观结构改造的方法，其特征在于，所述地外样品呈片状或微米级颗粒状；若地外样品呈片状，则对固定于加热芯片上的样品进行减薄操作至样品的厚度不超过100纳米，得到透射电镜样品；若地外样品呈微米级颗粒，且希望在模拟地外天体表面热演化的过程中观测样品表面矿物相的微观结构，则直接以步骤（1）固定了样品的加热芯片作为透射电镜样品；若地外样品呈微米级颗粒，且希望在模拟地外天体表面热演化的过程中观测样品内部矿物相的微观结构，则对固定于加热芯片上的样品进行减薄操作至样品的厚度不超过100纳米，得到透射电镜样品。

4.根据权利要求1所述模拟地外空间热环境对天体表层矿物微观结构改造的方法，其特征在于，所述矿物相包括橄榄石、斜长石、辉石、纳米金属铁、钛铁矿以及陨硫铁中的一种或多种。

5.根据权利要求1所述模拟地外空间热环境对天体表层矿物微观结构改造的方法，其特征在于，所述地外天地表面的热演化过程包括微陨石撞击、天体内部的传热以及天体内部熔岩流喷发中的一种或多种。

6.根据权利要求1所述模拟地外空间热环境对天体表层矿物微观结构改造的方法，其特征在于，所述地外样品为陨石或通过航天器从外太空带回地球的天然地外样品。

7.根据权利要求1至6中任一权利要求所述模拟地外空间热环境对天体表层矿物微观结构改造的方法，其特征在于，若地外样品呈微米级颗粒，步骤（2）先在热演化过程中实时观测样品表面的矿物相的微观结构，然后将透射电镜样品取出、置于双束电镜的样品腔内进行减薄操作之后，再通过加热样品杆重新置于透射电镜的样品腔中，在热演化过程中实时观测样品内部矿物相的微观结构。