[发明专利]新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法

说明书

本发明公开一种新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法，其中，新型光谱仪包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值。本发明技术方案能提高光谱仪检测CIERGB的效率。

技术领域

本发明涉及光谱仪产品技术领域，特别涉及一种新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法。

背景技术

现有光谱仪的原理是入射光依次穿过入射狭缝、准直元件、色散元件到达探测器阵列，再通过探测器阵列上的感应器获取各个波长位置处的光强值，绘制出光谱曲线，最后通过光谱曲线经计算得到R/G/B的值；然而，在以上过程中，为了绘制光谱曲线，必须记录每一点处的光强值，即探测器阵列上针对每一点处均需设置一感应器，基于各个感应器的感应值，才能绘制光谱曲线，容易理解，各个感应器累积的感应时间较长，延长了光谱仪的响应时间，影响了光谱仪检测R/G/B的工作效率。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种新型光谱仪，旨在解决现有技术中光谱仪检测R/G/B的工作效率低的技术问题。

为实现上述目的，本发明提出的新型光谱仪，包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，

所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；

探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值。

可选地，所述DLP挡光板具有与每一经所述色散元件按波长分散成的光束一一对应的挡光区域，各所述挡光区域相较于竖直平面的倾斜角度各不相同。

可选地，所述探测器还用以根据CIEXYZ三刺激值结合加混色定律及转换矩阵方法计算CIERGB值。

可选地，所述准直元件集成于所述色散元件面向所述入射狭缝的一侧。

可选地，所述准直元件和色散元件由凹面光栅构成。

本发明还提出一种基于DLP技术的光强检测方法，使用新型光谱仪，新型光谱仪包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值；

将所述入射狭缝对准待测光源，以使入射光穿过所述入射狭缝形成所述新型光谱仪成像系统的物点，透过所述入射狭缝的光线经所述准直元件转变为平行光，所述平行光经过所述色散元件按波长分散为多条光束，所述多条光束照射至所述DLP挡光板，转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光，所述投影光投射至所述探测器，以供所述探测器测量CIEXYZ三刺激值。

可选地，在所述多条光束照射至所述DLP挡光板的步骤之前，调整所述DLP挡光板上各挡光区域处的倾角，以使各挡光区域相较于竖直平面的角度各不相同。

可选地，在所述投影光投射至所述探测器，以供所述探测器测量CIEXYZ三刺激值的步骤之后，根据测量获得的CIEXYZ三刺激值结合加混色定律及转换矩阵方法计算CIERGB值。