[发明专利]新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法

权利要求书

1.一种新型光谱仪，其特征在于，包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，

所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；

探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值。

2.如权利要求1所述的新型光谱仪，其特征在于，所述DLP挡光板具有与每一经所述色散元件按波长分散成的光束一一对应的挡光区域，各所述挡光区域相较于竖直平面的倾斜角度各不相同。

3.如权利要求1所述的新型光谱仪，其特征在于，所述探测器还用以根据CIEXYZ三刺激值结合加混色定律及转换矩阵方法计算CIERGB值。

4.如权利要求1所述的新型光谱仪，其特征在于，所述准直元件集成于所述色散元件面向所述入射狭缝的一侧。

5.如权利要求4所述的新型光谱仪，其特征在于，所述准直元件和色散元件由凹面光栅构成。

6.一种基于DLP技术的光强检测方法，其特征在于，使用如权利要求1所述新型光谱仪，将所述入射狭缝对准待测光源，以使入射光穿过所述入射狭缝形成所述新型光谱仪成像系统的物点，透过所述入射狭缝的光线经所述准直元件转变为平行光，所述平行光经过所述色散元件按波长分散为多条光束，所述多条光束照射至所述DLP挡光板，转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光，所述投影光投射至所述探测器，以供所述探测器测量CIEXYZ三刺激值。

7.如权利要求6所述的基于DLP技术的光强检测方法，其特征在于，在所述多条光束照射至所述DLP挡光板的步骤之前，调整所述DLP挡光板上各挡光区域处的倾角，以使各挡光区域相较于竖直平面的角度各不相同。

8.如权利要求6所述的基于DLP技术的光强检测方法，其特征在于，在所述投影光投射至所述探测器，以供所述探测器测量CIEXYZ三刺激值的步骤之后，根据测量获得的CIEXYZ三刺激值结合加混色定律及转换矩阵方法计算CIERGB值。