[发明专利]缺陷处理方法、装置、设备、计算机可读存储介质及产品

说明书

本公开提供一种缺陷处理方法、装置、设备、计算机可读存储介质及产品，应用于数据处理领域，该方法包括：获取终端设备发送的待识别请求，其中，待识别请求中包括待识别缺陷以及与待识别缺陷对应的缺陷标识；根据待识别请求，采用预设的缺陷分类模型对待识别缺陷对应的缺陷标识进行识别，获得识别结果，识别结果中包括待识别缺陷对应的缺陷类型；根据识别结果，将待识别缺陷发送至与缺陷类型对应的缺陷处理系统进行故障修复操作。通过采用缺陷分类模型对待识别缺陷的类型进行识别，能够避免缺陷类型识别以及运维人员的分配全都由测试人员主观确定，提高了识别以及定位的准确性。此外，运维人员无需与多个测试人员对接，提高了缺陷处理的效率。

技术领域

本公开涉及数据处理领域，尤其涉及一种缺陷处理方法、装置、设备、计算机可读存储介质及产品。

背景技术

在缺陷管理的工作中，项目组运维人员在对接过程需要同时处理BUG定位、BUG分析、BUG解决、BUG反馈等工作，导致整个BUG的处理效率低下。

现有的缺陷管理方法一般都是针对项目不同的阶段配置不同的缺陷测试人员，由缺陷测试人员人工的进行缺陷的定位，并将定位的缺陷发送至测试人员进行修复。

但是，采用上述方法时，项目执行周期到达同时需要开展软件过程中的集成测试和软件过程中的用户测试时，当同一运维人员同时与多个缺陷测试人员对接，导致不断有各种测试缺陷提给运维人员，从而运维人员没有办法实时解决测试人员提出的问题。此外，缺陷的识别以及分配完全由测试人员根据经验进行操作，可能导致缺陷的识别以及分配完全基于测试人员的主观判断，准确性不高。

发明内容

本公开提供一种缺陷处理方法、装置、设备、计算机可读存储介质及产品，用于解决现有的缺陷管理方法同一运维人员同时与多个缺陷测试人员对接，缺陷无法及时修复的技术问题。

本公开的第一个方面是提供一种缺陷处理方法，包括：

获取终端设备发送的待识别请求，其中，所述待识别请求中包括待识别缺陷以及与所述待识别缺陷对应的缺陷标识；

根据所述待识别请求，采用预设的缺陷分类模型对所述待识别缺陷对应的缺陷标识进行识别，获得识别结果，所述识别结果中包括所述待识别缺陷对应的缺陷类型；

根据所述识别结果，将所述待识别缺陷发送至与所述缺陷类型对应的缺陷处理系统进行故障修复操作。

本公开的第二个方面是提供一种缺陷处理装置，包括：

获取模块，用于获取终端设备发送的待识别请求，其中，所述待识别请求中包括待识别缺陷以及与所述待识别缺陷对应的缺陷标识；

识别模块，用于根据所述待识别请求，采用预设的缺陷分类模型对所述待识别缺陷对应的缺陷标识进行识别，获得识别结果，所述识别结果中包括所述待识别缺陷对应的缺陷类型；

发送模块，用于根据所述识别结果，将所述待识别缺陷发送至与所述缺陷类型对应的缺陷处理系统进行故障修复操作。

本公开的第三个方面是提供一种电子设备，包括：存储器，处理器；

存储器；用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器用于调用所述存储器中的程序指令执行如第一方面所述的缺陷处理方法。

本公开的第四个方面是提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如第一方面所述的缺陷处理方法。

本公开的第五个方面是提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现如第一方面所述的缺陷处理方法。