[发明专利]微电子装置测试以及相关装置、系统和方法

权利要求书

1.一种装置，其包括：

存储器阵列，其包含某一数目的行和某一数目的列；以及

电路，其耦合到所述存储器阵列且经配置以：

对所述数目的行中的每一行执行测试操作以检测：所述数目的行中的第一行的第一失效；以及与所述数目的行的行集合相关联的额外失效集合；

确定所述行集合是否邻近于所述第一行；以及

响应于确定所述行集合邻近于所述第一行，产生指示所述数目的列中的列的失效的信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述电路进一步经配置以确定邻近于所述第一行的行群组，其中所述行群组包括在所述第一行的第一侧上的某一数目的行、在所述第一行的第二相对侧上的某一数目的行，或这两者。

3.根据权利要求2所述的装置，其中所述电路进一步经配置以将所述行集合的每一行与所述行群组的每一行进行比较以确定所述行集合是否邻近于所述第一行。

4.根据权利要求1所述的装置，其中所述电路包括：

某一数目的第一寄存器，每一第一寄存器经配置以存储用于未通过测试操作的行的行地址；以及

某一数目的邻接单元，其中所述数目的第一寄存器中的每一第一寄存器耦合到所述数目的邻接单元中的相关联邻接单元，其中所述数目的邻接单元中的至少一个邻接单元经配置以：

从相关联第一寄存器接收与所述第一失效相关联的地址；

确定邻近于所述失效行的行群组的至少一个地址；

接收与所述额外失效集合中的第二失效相关联的地址；

将邻近于所述失效行的所述行群组的所述至少一个地址和与所述第二失效相关联的所述地址进行比较；以及

响应于邻近于所述失效行的所述行群组的所述至少一个地址匹配于与所述第二失效相关联的所述地址而产生指示所述列的所述失效的所述信号。

5.根据权利要求4所述的装置，其中所述至少一个邻接单元包括：

某一数目的加法器，所述数目的加法器中的每一加法器经配置以：

接收与所述第一行相关联的所述地址；以及

产生邻近于所述第一行的所述行群组的所述至少一个地址；

某一数目的比较器，所述数目的比较器中的每一比较器经配置以：

接收邻近于所述第一行的所述行群组的所述至少一个地址；

接收与所述额外失效集合中的所述第二失效相关联的所述地址；

将邻近于所述失效行的所述行群组的所述至少一个地址和与所述第二失效相关联的所述地址进行比较；以及

响应于邻近于所述失效行的所述行群组的所述至少一个地址匹配于与所述第二失效相关联的所述地址而产生匹配信号；以及

某一数目的失效寄存器，所述数目的失效寄存器中的每一失效寄存器经配置以：

从所述数目的比较器中的至少一个比较器接收所述匹配信号；以及

响应于接收到错误脉冲信号而产生指示匹配的输出。

6.根据权利要求1所述的装置，其中所述电路包括：

某一数目的第一寄存器，所述数目的第一寄存器中的寄存器经配置以存储所述第一行的行地址；

至少一个加法器，其经配置以接收所述第一行的所述地址且产生递增地址；以及

至少一个比较器，其经配置以：

识别邻近于所述第一行的至少一个行群组；

接收与当前行相关联的地址；

将与所述当前行相关联的所述地址与邻近于所述第一行的所述至少一个行群组中的行的地址进行比较；以及

响应于邻近于所述第一行的所述至少一个行群组中的所述行的所述地址匹配于与所述当前行相关联的所述地址而产生信号。

7.根据权利要求6所述的装置，其进一步包括至少一个失效寄存器，所述至少一个失效寄存器中的每一失效寄存器耦合到所述至少一个比较器中的比较器的输出，每一失效寄存器经配置以响应于在测试邻近于所述第一行的所述至少一个行群组中的行时找到的错误的识别而存储失效旗标。

8.根据权利要求1所述的装置，其中所述测试操作包括存储器内置式自测试mBIST。