[发明专利]不规则玻璃的成分含量检测方法有效

专利信息
申请号: 202111471313.1 申请日: 2021-12-04
公开(公告)号: CN114264682B 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 郭学谦;黄军;朱俊勇;周贤友;常海新;陈自发;刘红刚 申请(专利权)人: 清远南玻节能新材料有限公司;中国南玻集团股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N23/2202
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 李美
地址: 511600 广东省清远*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 不规则 玻璃 成分 含量 检测 方法
【说明书】:

发明涉及一种不规则玻璃的成分含量检测方法,该不规则玻璃的成分含量检测方法采用X射线荧光光谱法,制片步骤包括:将烘干的不规则玻璃样放置于高纯石墨板上,在熔融温度下加热,得到熔融玻璃样;冷却熔融玻璃样,得到玻璃片;其中,熔融温度高于不规则玻璃样的玻璃化温度250℃~400℃;玻璃片与高纯石墨板接触的表面光滑。该不规则玻璃的成分含量检测方法的制片步骤无需将玻璃样品研磨成粉,熔融制得的玻璃片样品使用成品玻璃的标准工作曲线进行检测,并可以与成品玻璃的检测结果进行比对,无需重新制备检测标准曲线,检测方法的操作简单、且分析周期较短。

技术领域

本发明涉及玻璃制品分析技术领域,具体涉及一种不规则玻璃的成分含量检测方法。

背景技术

在平板玻璃生产工艺中,通常需要检查槽窑内玻璃液的混合情况,或窑内各设备对玻璃液的影响情况,因此需要对玻璃液中的成分含量进行定量分析。但是由于取样得到的玻璃块形状误差较大,通常是不规则的玻璃块,对其进行成分含量分析的难度较大。

根据GB T 1549-2008《纤维玻璃化学分析方法》,传统技术以容量法为主,辅以紫外可见分光光谱法、原子吸收分光光谱法、ICP等分析方法分别对玻璃样品中的各成分进行化学分析。这种检测方法不但对操作者的技能和经验要求较高,而且分析耗时很长。

X射线荧光光谱法(X-ray fluorescence analysis,简称XRF),是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。X射线荧光光谱法作为一种多组分同步测定方法,近年来在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等领域都得到了广泛的应用。X射线荧光光谱法分析不规则玻璃成分含量,通常需要将玻璃样品研磨成粉,然后采用熔样或者压样的方式制片,然后进行分析。由于压样制片及熔样制片之前均需要将玻璃研磨成粉状,制片流程复杂;且测试所需的检测标准曲线与成品玻璃的检测标准曲线不同,建立检测标准曲线较复杂。

发明内容

基于此,有必要提供一种操作简单、且分析周期较短的不规则玻璃的成分含量检测方法。

本发明的一个方面,提供了一种不规则玻璃的成分含量检测方法,包括以下步骤:

将洁净并烘干的不规则玻璃样放置于高纯石墨板上,在熔融温度下加热,得到熔融玻璃样;

冷却所述熔融玻璃样,得到玻璃片;

对所述玻璃片进行X射线荧光光谱检测;

其中,所述熔融温度较所述不规则玻璃样的玻璃化温度高250℃~400℃;

所述高纯石墨板的表面光滑,以使所述玻璃片与所述高纯石墨板接触的表面光滑。

在其中一些实施例中,制片步骤还包括:

对所述玻璃片与所述高纯石墨板接触的表面进行抛光处理。

在其中一些实施例中,在进行X射线荧光光谱检测的步骤之前,还包括:

根据X射线荧光光谱仪样品盒尺寸对所述玻璃片进行裁切。

在其中一些实施例中,所述高纯石墨板为镜面级高纯石墨板。

在其中一些实施例中,所述制片步骤在保护性气体保护下进行。

在其中一些实施例中,所述在熔融温度下加热的时间为5min~10min。

在其中一些实施例中,在冷却熔融玻璃样的步骤之前,还包括:

在所述熔融玻璃样的上方放置高纯石墨上盖,对所述熔融玻璃样进行热压;

热压结束后,取出所述高纯石墨上盖,经过热压的所述熔融玻璃样继续在所述熔融温度下加热。

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