[发明专利]一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法及系统，包括示波器、待测设备以及计算机，其中示波器和待测设备的光口通过SFP+夹具连接，计算机的网口和示波器网口通过网线连接，所述SFP+夹具插入到待测试样机光口中，将待测试样机光口的电信号传递给示波器。本发明通过基于labview编制的自动控制程序实现自动测试，利用自动控制程序自动设置示波器眼图参数并读取待测设备光口的Vp‑p电压值，从而自动判断光口AC耦合电容是否掉件，具有测试流程简单、测试效率高的特点。

技术领域

本发明属于产品光口测试技术领域，具体涉及一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法及系统。

背景技术

为了保障交换机光口能稳定可靠的运行，AC耦合电容是必不可少的元器件，而在实际生产过程中，会遇到打件不牢固，或者撞件的情况，容易造成AC耦合电容掉件，在生产测试阶段无法通过短时功能验证该问题，因为AC耦合电容只掉件一个的情况下，光口依然能正常工作，只有在长时间验证打流环境下才能发现问题，如果采用长时间打流验证，效率就会极其低，测试流程也比较复杂。所以通过该测试方法能验证出AC耦合电容掉件的问题，并能够通过自动化程序判定，简化测试流程，和提升测试效率。

发明内容

本发明需要解决的技术问题是提供一种简化测试流程，提高测试效率，并能自动检测判定的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法及系统。

为解决上述问题，本发明所采取的技术方案是：

一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试系统，包括示波器、待测设备以及计算机，其中示波器和待测设备的光口通过SFP+夹具连接，计算机的网口和示波器网口通过网线连接，所述SFP+夹具插入到待测试样机光口中，将待测试样机光口的电信号传递给示波器。

进一步的所述待测设备光口至少包括光口1和光口2，光口1和光口2均为普通光口，其物理接口为标准SFP+接口，速率10Gbps。

进一步的，所述计算机中安装有自动测试程序，所述自动测试程序是基于labview编制的自动控制程序，该程序可自动设置示波器参数并读取眼图参数，实现自动测试和判定测试结果。

一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法，其步骤如下：

S1、测试系统搭建

将待测设备用SFP+夹具连接示波器的光线输入输出端，将计算机通过网线与示波器连接；

S2、开启待测设备、示波器以及计算机，计算机自动设置示波器参数，自动测量待测设备光口通讯时的电信号；

S3、自动读取眼图的Vp-p电压值，并判定测试结果，如果Vp-p＜600mv，则判定光口AC耦合电容掉件，如果Vp-p≥600mv，则判定光口AC耦合电容没有掉件；

进一步的，还包括步骤S4、如果光口AC耦合电容掉件，则拆机后重新焊接AC耦合电容，然后再重复步骤S3，如果光口AC耦合电容没有掉件，则更换光口重复步骤S3，直至全部光口测试完成。

进一步的，所述步骤S2自动化设置示波器参数是指计算机依次调出Vp-p、Eyeheight、Eye width、Data rate、Eye jitter测试参数，并且设置示波器垂直刻度为150mV每格，水平刻度为200ns每格。

进一步的，所述计算机中安装有自动测试程序，所述自动测试程序是基于labview编制的自动控制程序，该程序可自动设置示波器参数并读取眼图参数，实现自动测试和判定测试结果。

采用上述技术方案所产生的有益效果在于：

本发明通过基于labview编制的自动控制程序实现自动测试，利用自动控制程序自动设置示波器眼图参数并读取待测设备光口的Vp-p电压值，从而自动判断光口AC耦合电容是否掉件，具有测试流程简单、测试效率高的特点。