[发明专利]一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111412296.4 申请日: 2021-11-25
公开(公告)号: CN114113852A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 陈晨;佘杨滨 申请(专利权)人: 太仓市同维电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 刘黎明
地址: 215400 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 验证 ac 耦合 电容 是否 测试 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试系统,其特征在于:包括示波器、待测设备以及计算机,其中示波器和待测设备的光口通过SFP+夹具连接,计算机的网口和示波器网口通过网线连接,所述SFP+夹具插入到待测试样机光口中,将待测试样机光口的电信号传递给示波器。

2.根据权利要求1所述的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试系统,其特征在于:所述待测设备光口至少包括光口1和光口2,光口1和光口2均为普通光口,其物理接口为标准SFP+接口,速率10Gbps。

3.根据权利要求1所述的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试系统,其特征在于:所述计算机中安装有自动测试程序,所述自动测试程序是基于labview编制的自动控制程序,该程序可自动设置示波器参数并读取眼图参数,实现自动测试和判定测试结果。

4.一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法,其步骤如下:

S1、测试系统搭建

将待测设备用SFP+夹具连接示波器的光线输入输出端,将计算机通过网线与示波器连接;

S2、开启待测设备、示波器以及计算机,计算机自动设置示波器参数,自动测量待测设备光口通讯时的电信号;

S3、自动读取眼图的Vp-p电压值,并判定测试结果,如果Vp-p<600mv,则判定光口AC耦合电容掉件,如果Vp-p≥600mv,则判定光口AC耦合电容没有掉件。

5.根据权利要求4所述的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法,还包括步骤S4、如果光口AC耦合电容掉件,则拆机后重新焊接AC耦合电容,然后再重复步骤S3,如果光口AC耦合电容没有掉件,则更换光口重复步骤S3,直至全部光口测试完成。

6.根据权利要求4或5所述的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法,其特征在于:所述步骤S2自动化设置示波器参数是指计算机依次调出Vp-p、Eye height、Eye width、Data rate、Eye jitter测试参数,并且设置示波器垂直刻度为150mV每格,水平刻度为200ns每格。

7.根据权利要求6所述的一种验证光口AC耦合电容是否掉件的测试方法,其特征在于:所述计算机中安装有自动测试程序,所述自动测试程序是基于labview编制的自动控制程序,该程序可自动设置示波器参数并读取眼图参数,实现自动测试和判定测试结果。

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