[发明专利]一种智能芯片检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种智能芯片检测系统，其特征在于，包括平台（1），所述平台（1）的下端设置有测电机构（2），所述测电机构（2）的一侧设置有移动机构（3），所述移动机构（3）上设置有转动机构（4），所述转动机构（4）上设置有夹持机构（5），所述测电机构（2）的内部设置有支撑机构（6），所述支撑机构（6）的上端设置有固定机构（7）；所述测电机构（2）包括固定框（21），所述固定框（21）嵌设在平台（1）的一侧侧上，所述固定框（21）的下端内壁中心处固定连接有通电座（22），所述通电座（22）的上表面中心处开设有接电槽（23），所述接电槽（23）的两侧侧壁上均开设有卡接槽（24）；

所述移动机构（3）包括滑槽（31），所述滑槽（31）开设在固定框（21）的侧壁中心处，所述滑槽（31）内部滑动连接有滑块（32），所述滑块（32）位于固定框（21）内部的一端固定连接有夹片（33），所述滑块（32）的另一端固定连接有夹块（34），所述夹块（34）的外圆侧壁上开设有插孔（35），所述插孔（35）的内部插接有L形杆（36），所述L形杆（36）的下端固定连接在固定框（21）的外壁下端；所述转动机构（4）包括固定轴（41），所述固定轴（41）固定连接在夹片（33）远离夹块（34）的一侧侧壁上，所述固定轴（41）的另一端固定连接有挡片（42），所述固定轴（41）插接在转孔（43）内部，所述转孔（43）开设在转板（44）的中心处，所述转孔（43）的内壁上开设有移动槽（45），所述移动槽（45）的内壁上固定连接有第一弹簧（47），所述第一弹簧（47）的另一端固定连接有插块（46），所述插块（46）插接在移动槽（45）内部，所述插块（46）的表面上固定连接有拨动块（48），所述拨动块（48）滑动连接在拨动槽（49）内部，所述拨动槽（49）开设在移动槽（45）的下端内壁上，所述拨动槽（49）与转板（44）的下端外壁相连通，所述插块（46）的另一端插接在第一固定槽（410）内部，所述第一固定槽（410）开设在固定轴（41）的一侧表面上，所述固定轴（41）的另一侧表面上开设有第二固定槽（411）；所述夹持机构（5）包括两个圆腔（51），两个所述圆腔（51）对称开设在转板（44）的内部，两个所述圆腔（51）的内均卡接有两个圆柱（52），四个所述圆柱（52）的表面上均固定连接有夹杆（53），四个所述夹杆（53）分别滑动连接在四个条形孔（54）内部，四个所述条形孔（54）分别开设在两个圆腔（51）的上端内壁两侧，四个所述夹杆（53）的上端均固定连接有橡胶块（55），四个所述夹杆（53）的上端侧壁上均开设有斜面（56），四个所述圆柱（52）上分别开设有四个两两对称的圆槽（57），四个所述圆槽（57）的内部分别卡接有两个第二弹簧（58），四个所述圆槽（57）的内壁上均固定连接有固定杆（59），四个所述固定杆（59）分别卡接在两个第二弹簧（58）的两端，四个所述夹杆（53）相互远离的一侧侧壁上均固定连接有L形块（510），四个所述夹杆（53）之间卡接有同一个芯片（511），所述转板（44）的上表面上对称开设有四个三角块（512）；所述支撑机构（6）包括两个通孔（61），两个所述通孔（61）对称开设在固定框（21）的底部内壁上，两个所述通孔（61）的内部均插接有竖杆（62），两个所述竖杆（62）的上端均固定连接有撑板（63），两个所述竖杆（62）的下端固定连接有同一个连接杆（64），所述连接杆（64）的一端固定连接有滑杆（65），所述滑杆（65）插接在滑孔（66）内部，所述滑孔（66）开设在平台（1）的下表面上，所述滑杆（65）的上端表面上固定套接有固定环（67），所述固定环（67）卡接在环槽（68）内部，所述环槽（68）开设在转环（69）内部，所述转环（69）的外壁上固定连接有转条（610），所述转条（610）的表面上固定连接有把手（611）；所述固定机构（7）包括竖板（71），所述竖板（71）固定连接在平台（1）的上表面上，所述竖板（71）的上端开设有缺口（72），所述缺口（72）的下端内壁上开设有凹槽（73），所述凹槽（73）的内部固定连接有第三弹簧（74），所述第三弹簧（74）的上端固定连接有推块（75），所述推块（75）的上端固定连接有半圆块（76）。

2.根据权利要求1所述的一种智能芯片检测系统，其特征在于，四个所述夹杆（53）两两对称设置，四个所述夹杆（53）与四个三角块（512）分别位于芯片（511）的四边。