[发明专利]图像处理方法、装置及电子设备在审

专利信息
申请号: 202111346164.6 申请日: 2021-11-15
公开(公告)号: CN114067038A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 陈李胜;刘文锋 申请(专利权)人: 广州极飞科技股份有限公司
主分类号: G06T15/00 分类号: G06T15/00;G06T17/05;G06T19/00;G06T19/20;G06T3/40;G06T5/50
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张欣欣
地址: 510000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:

对初始图像数据进行切图处理,得到分辨率最高的最高级别瓦片集,所述最高级别瓦片集中各瓦片的各像素点具备对应的高度值;

基于所述最高级别瓦片集逐级进行瓦片合并处理,得到分辨率不同的至少一个低级别瓦片集,其中,所述低级别瓦片集中不同像素点由相对较高级别的瓦片集中不同像素矩阵形成;

对于各低级别瓦片集中各像素点,从所述像素点对应的像素矩阵中确定一个目标像素点,并将所述像素点的高度值更新为所述目标像素点的高度值;其中,确定出的所有目标像素点不同时为具备最大高度值的像素点。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对初始图像数据进行切图处理,包括:

采用最大值采样算法对所述初始图像数据进行切图处理。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

对各像素矩阵中各像素点进行编号;其中,同一像素矩阵中不同像素点的编号不同,任意两像素矩阵中像素点的编号一一对应,且编号对应的两个像素点的编号相同;

所述对于各低级别瓦片集中各像素点,从所述像素点对应的像素矩阵中确定一个目标像素点,包括:

对于各低级别瓦片集中各像素点,从所述像素点对应的像素矩阵中确定设定编号的像素点为目标像素点。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对于各低级别瓦片集中各像素点,从所述像素点对应的像素矩阵中确定一个目标像素点,包括:

对于各低级别瓦片集中各像素点,从所述像素点对应的像素矩阵中确定位于设定行和列的像素点为目标像素点。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述基于所述最高级别瓦片集逐级进行瓦片合并处理,得到分辨率不同的至少一个低级别瓦片集,包括:

对于各低级别瓦片集,对所述低级别瓦片集的上一级别瓦片集中各瓦片阵列进行合并处理,以形成所述低级别瓦片集。

6.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,还包括:

收到展示目标图像的指令时,根据所述指令对应的图像缩放比例确定目标图像的缩放级别;

根据所述缩放级别确定对应分辨率级别的目标瓦片集;

基于所述目标瓦片集进行图像渲染处理,得到所述目标图像的三维渲染图。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述目标图像包括以下至少之一:目标区域的三维地势渲染图、目标区域的三维水淹渲染图、目标区域的三维植物长势渲染图;

当所述目标图像为目标区域的三维水淹渲染图时,所述方法还包括:

根据目标区域的灌溉量和/或降雨量和/或土壤入渗率,确定所述目标区域的水位变化量;

所述基于所述目标瓦片集进行图像渲染处理,得到所述目标图像的三维渲染图,包括:

基于所述目标瓦片集和所述水位变化量进行图像渲染处理,得到所述目标区域的三维水淹渲染图。

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述目标图像包括以下至少之一:目标区域的三维地势渲染图、目标区域的三维水淹渲染图、目标区域的三维植物长势渲染图;

当所述目标图像为目标区域的三维水淹渲染图时,所述方法还包括:

获取所述目标区域的当前水淹高度值;

所述基于所述目标瓦片集进行图像渲染处理,得到所述目标图像的三维渲染图,包括:

基于所述目标瓦片集和所述当前水淹高度值进行图像渲染处理,得到所述目标区域的三维水淹渲染图。

9.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

获取所述目标区域的基准水平高度值;

基于所述基准水平高度值和任一级别瓦片集,确定所述目标区域中的高墩区域和低洼区域。

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