[发明专利]状态检测方法与状态检测装置

说明书

本发明提供一种状态检测方法与状态检测装置，用于检测存储器存储装置的状态。所述方法包括：建立与所述存储器存储装置的连线；对所述存储器存储装置执行第一检测程序，以对所述存储器存储装置进行初始错误分类；根据所述初始错误分类的分类结果对所述存储器存储装置执行第二检测程序；以及根据所述第二检测程序的检测结果提供检测数据，其中所述检测数据反映所述存储器存储装置的缺陷状态。藉此，可有效提高对存储器存储装置的状态检测效率。

技术领域

本发明涉及一种缺陷检测技术，且尤其涉及一种状态检测方法与状态检测装置。

背景技术

某些类型的存储器存储装置(例如U盘)主要是通过封装程序来生产，而所述封装程序可包括封装内系统(System in package,SIP)封装。但是，经由SIP封装所生产的装置在成形后是处于密闭的状态，而开发人员或测试人员无法直接对产品表面进行电性测量和分析。因此，此些类型的存储器存储装置在进行出厂前的加工与验证时，若遭遇到问题而成为不良品，则此些不良品往往无法直接在加工与验证工厂进行错误分析，而必须要将不良品运回原厂才能由原厂工程师进行人工分析与错误处理。然而，不良品的运送往往耗费许多时间，甚至在不良品的数量众多的情况下，可能导致产品的出货延宕。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种状态检测方法与状态检测装置，可有效提高对存储器存储装置的状态检测效率。

本发明的实施例提供一种状态检测方法，其用于检测存储器存储装置的缺陷状态。所述状态检测方法包括：建立与所述存储器存储装置的连线；对所述存储器存储装置执行第一检测程序，以对所述存储器存储装置进行初始错误分类；根据所述初始错误分类的分类结果对所述存储器存储装置执行第二检测程序；以及根据所述第二检测程序的检测结果提供检测数据，其中所述检测数据反映所述存储器存储装置的缺陷状态。

本发明的实施例另提供一种状态检测装置，其用于检测存储器存储装置的缺陷状态。所述状态检测装置包括连接接口电路与处理器。所述连接接口电路用以连接至所述存储器存储装置。所述处理器连接至所述连接接口电路。所述处理器用以：经由所述连接接口电路建立所述状态检测装置与所述存储器存储装置之间的连线；对所述存储器存储装置执行第一检测程序，以对所述存储器存储装置进行初始错误分类；根据所述初始错误分类的分类结果对所述存储器存储装置执行第二检测程序；以及根据所述第二检测程序的检测结果提供检测数据，其中所述检测数据反映所述存储器存储装置的缺陷状态。

基于上述，在建立与存储器存储装置的连线之后，第一检测程序可先对所述存储器存储装置执行，以对所述存储器存储装置进行初始错误分类。稍后，根据所述初始错误分类的分类结果，第二检测程序可自动地对所述存储器存储装置执行。根据所述第二检测程序的检测结果，检测数据亦可被自动提供，以反映所述存储器存储装置的缺陷状态。藉此，可有效提高对存储器存储装置的状态检测效率。

附图说明

图1是根据本发明的一实施例所示出的状态检测系统的示意图；

图2是根据本发明的一实施例所示出的状态检测方法的流程时序示意图。

具体实施方式

现将详细地参考本发明的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同元件符号在附图和描述中用来表示相同或相似部分。

图1是根据本发明的一实施例所示出的状态检测系统的示意图。请参照图1，状态检测系统(亦称为状态检测系统)10可包括状态检测装置(亦称为缺陷状态检测装置)11与存储器存储装置12。例如，状态检测装置11可为平板计算机、笔记本计算机、个人计算机、工业计算机或服务器等各式可连接至存储器存储装置12并存取存储器存储装置12的电子装置。此外，存储器存储装置12可为U盘、存储卡或固态硬盘(Solid State Drive,SSD)等各式用以存储数据的存储器存储装置。