[发明专利]状态检测方法与状态检测装置

权利要求书

1.一种状态检测方法，其特征在于，用于检测存储器存储装置的缺陷状态，所述状态检测方法包括：

建立与所述存储器存储装置的连线；

对所述存储器存储装置执行第一检测程序，以对所述存储器存储装置进行初始错误分类；

根据所述初始错误分类的分类结果对所述存储器存储装置执行第二检测程序；以及

根据所述第二检测程序的检测结果提供检测数据，其中所述检测数据反映所述存储器存储装置的缺陷状态。

2.根据权利要求1所述的状态检测方法，其中根据所述初始错误分类的所述分类结果对所述存储器存储装置执行所述第二检测程序的步骤包括：

根据所述初始错误分类的所述分类结果，自动从多个候选检测项目中选择关联于所述分类结果的至少一检测项目；以及

在所述第二检测程序中，根据所述至少一检测项目对所述存储器存储装置进行检测。

3.根据权利要求2所述的状态检测方法，其中根据所述初始错误分类的所述分类结果，自动从所述多个候选检测项目中选择关联于所述分类结果的所述至少一检测项目的步骤包括：

响应于所述初始错误分类的所述分类结果为第一分类结果，自动从所述多个候选检测项目中选择关联于所述第一分类结果的至少一第一检测项目；以及

响应于所述初始错误分类的所述分类结果为第二分类结果，自动从所述多个候选检测项目中选择关联于所述第二分类结果的至少一第二检测项目，

其中所述至少一第一检测项目的项目组成不同于所述至少一第二检测项目的项目组成。

4.根据权利要求1所述的状态检测方法，其中所述第一检测程序包括执行以下多个检测项目的至少其中之一：

读取并验证所述存储器存储装置回报的装置识别码；

执行所述存储器存储装置的连接接口参数的调整测试；

分析所述存储器存储装置的数据信号的眼图信息；

读取并验证所述存储器存储装置回报的装置类型；以及

对所述存储器存储装置的存储器模块执行读写测试。

5.根据权利要求1所述的状态检测方法，其中所述第二检测程序包括执行以下多个检测项目的至少其中之一：

对所述存储器存储装置执行温度变化测试；

对所述存储器存储装置执行表面蚀刻；

对所述存储器存储装置执行光学穿透检测；

对所述存储器存储装置执行超声波扫描；

对所述存储器存储装置执行电子数据检测；以及

对所述存储器存储装置执行外观完整性检测。

6.根据权利要求1所述的状态检测方法，其中所述检测数据呈现所述存储器存储装置的软件错误信息、所述存储器存储装置的硬件错误信息、所述存储器存储装置的工艺缺陷信息及所述存储器存储装置内部的存储器模块的损耗状态信息的至少其中之一。

7.一种状态检测装置，其特征在于，用于检测存储器存储装置的缺陷状态，所述状态检测装置包括：

连接接口电路，用以连接至所述存储器存储装置；以及

处理器，连接至所述连接接口电路，

其中所述处理器用以：

经由所述连接接口电路建立所述状态检测装置与所述存储器存储装置之间的连线；

对所述存储器存储装置执行第一检测程序，以对所述存储器存储装置进行初始错误分类；

根据所述初始错误分类的分类结果对所述存储器存储装置执行第二检测程序；以及

根据所述第二检测程序的检测结果提供检测数据，其中所述检测数据反映所述存储器存储装置的缺陷状态。

8.根据权利要求7所述的状态检测装置，其中根据所述初始错误分类的所述分类结果对所述存储器存储装置执行所述第二检测程序的操作包括：

根据所述初始错误分类的所述分类结果，自动从多个候选检测项目中选择关联于所述分类结果的至少一检测项目；以及

在所述第二检测程序中，根据所述至少一检测项目对所述存储器存储装置进行检测。