[发明专利]除胶量测量方法及除胶量测量系统在审
| 申请号: | 202111260143.2 | 申请日: | 2021-10-28 |
| 公开(公告)号: | CN114018373A | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
| 发明(设计)人: | 滕飞;罗畅;杜子良 | 申请(专利权)人: | 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01G9/00 | 分类号: | G01G9/00 |
| 代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 洪铭福 |
| 地址: | 510663 广东省广州市广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测量方法 测量 系统 | ||
本发明公开了一种除胶量测量方法及除胶量测量系统。除胶量测量方法应用于PCB,测试板包括多块子板,多块所述子板堆叠设置,所述测试板的厚度小于或等于所述PCB的厚度,所述除胶量测量方法包括:对所述测试板和所述PCB进行除胶操作;获取每一块所述子板的除胶量;根据所述除胶量和所述子板的厚度得到测量模型。本申请实施例通过测量模型实现了对PCB板面、通孔不同位置除胶量的量化测量。
技术领域
本发明涉及除胶量测量技术领域,尤其涉及一种除胶量测量方法及除胶量测量系统。
背景技术
目前,等离子除胶是PCB制作过程中常用的一种除胶方式。
相关技术中,通过以下三种方法确定PCB的除胶效果:第一种,使用蚀刻掉铜皮的测试板与PCB一起做等离子除胶操作,根据测试板除胶操作前后的重量变化评估PCB的除胶效果;第二种,将除胶操作后的PCB切片,测量PCB内层铜周围基材的咬蚀程度,根据咬蚀程度评估PCB的除胶效果;第三种,将除胶操作后的PCB切片,使用扫描电镜观察PCB内层铜上的胶渣残留情况,进而得到PCB的除胶效果。
在进行除胶操作时,由于PCB孔内存在不均匀的气体流动情况,使得PCB出现孔口咬蚀量大、孔中心咬蚀量小的情况。因此,上述第一种方法无法衡量PCB孔中心的除胶效果;第二种方法在咬蚀量较小时容易出现测量误差;第三种方法测量结果为图片化,即无法对除胶效果进行量化。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明提出一种除胶量测量方法及除胶量测量系统,能够对PCB的除胶量进行量化测量。
根据本发明的第一方面实施例的除胶量测量方法,应用于PCB,测试板包括多块子板,多块所述子板堆叠设置,所述测试板的厚度小于或等于所述PCB的厚度,所述除胶量测量方法包括:对所述测试板和所述PCB进行除胶操作;获取每一块所述子板的除胶量;根据所述除胶量和所述子板的厚度得到测量模型。
根据本发明实施例的除胶量测量方法,至少具有如下有益效果:通过对多块子板组成的测试板与PCB一起进行除胶操作,并根据每一块子板的除胶量和子板的厚度构建测量模型,实现了对PCB板面、通孔不同位置除胶量的量化测量。
根据本发明的一些实施例,在所述对所述测试板和所述PCB进行除胶操作之前,所述除胶量测量方法还包括:获取每一块所述子板的第一重量;所述获取每一块所述子板的除胶量,包括:获取每一块所述子板的第二重量;根据第一重量和所述第二重量得到所述子板的重量变化量;获取每一块所述子板的除胶面积;根据所述除胶面积和所述重量变化量得到所述除胶量。
根据本发明的一些实施例,每一个所述子板都设有多个测试通孔,所述测试通孔的直径与所述PCB的最小通孔直径相等;所述获取每一块所述子板的除胶面积,包括:根据所述测试通孔的直径得到所述测试通孔的第一除胶子面积;获取所述子板的周长,根据所述周长和所述子板的厚度得到第二除胶子面积;根据所述第一除胶子面积和所述第二除胶子面积得到所述除胶面积。
根据本发明的一些实施例,每一块所述子板上均开设有定位孔,所述定位孔用于固定堆叠设置的多块所述子板。
根据本发明的一些实施例,相邻测试通孔的孔间距与对应的相邻最小通孔的孔间距等比例。
根据本发明的一些实施例,在所述对所述测试板和所述PCB进行除胶操作之前,所述除胶量测量方法还包括:对裁剪板进行裁剪操作,得到多块所述子板。
根据本发明的一些实施例,所述根据所述除胶量和所述子板的厚度得到测量模型,包括:根据所述除胶量和所述子板的厚度建立正面或背面坐标系,得到所述测量模型。
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