[发明专利]基于图像处理的纺织品染色质量评估方法与系统

说明书

本发明涉及纺织、图像处理识别技术领域，具体涉及一种基于图像处理的纺织品染色质量评估方法与系统。方法包括：采集纺织品染色之前的图像I₁、纺织品染色之后的图像I₂，并获取纺织品对应的颜色设计图；获取颜色设计图与I₁各像素位置的差异，根据各像素位置的差异得到各像素位置的权重；各像素位置的权重组成第一权重掩膜，将设定权值矩阵与第一权重掩膜相减得到第二权重掩膜，将I₁与第一权重掩膜相乘得到图像I₃，将I₂与I₃点对点相减所得图像除以第二权重掩膜，得到真实颜色纹理图；根据真实颜色纹理图与颜色设计图的差异得到纺织品染色质量评估结果。本发明可以克服不同纺织品工况对染色工艺评价的影响，提高染色质量的评价精度。

技术领域

本发明涉及纺织、图像处理识别技术领域，具体涉及一种基于图像处理的纺织品染色质量评估方法与系统。

背景技术

在纺织品加工的过程中，染色就是使染料通过化学或物理的方法结合在织物纤维上，使得织物具有一定色泽的全部加工过程。纺织品染色的过程基本上包含三个阶段：表面吸附、内部扩散以及燃料固着。在纺织品染色过程中经常会由于纺织品纤维粗细密度不同以及作业人员的操作不当出现色泽不匀、色泽偏差、纬向条花等瑕疵，所以有必要对纺织品的染色质量进行评估。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的目的在于提供一种基于图像处理的纺织品染色质量评估方法与系统，所采用的技术方案具体如下：

本发明一个实施例提供一种基于图像处理的纺织品染色质量评估方法，该方法包括：

采集纺织品染色之前的图像I₁、纺织品染色之后的图像I₂，并获取纺织品对应的颜色设计图；

获取颜色设计图与I₁各像素位置的差异，根据各像素位置的差异得到各像素位置的权重；各像素位置的权重组成第一权重掩膜，将设定权值矩阵与第一权重掩膜相减得到第二权重掩膜，将I₁与第一权重掩膜相乘得到图像I₃，将I₂与I₃点对点相减所得图像除以第二权重掩膜，得到真实颜色纹理图；

根据真实颜色纹理图与颜色设计图的差异得到纺织品染色质量评估结果。

进一步地，所述获取颜色设计图与I₁各像素位置的差异包括：

I₁中各像素位置所有通道的像素值组成第一向量，颜色设计图中各像素位置所有通道的像素值组成第二向量；获取第一向量方向上单位向量与第二向量方向上单位向量的余弦相似度作为第一差异；

分别获取颜色设计图、I₁中各像素位置在每个通道的梯度值；获取颜色设计图与I₁相同像素位置对应通道梯度值之差组成梯度向量；获取颜色设计图与I₁相同像素位置对应通道的像素值之差组成像素值向量；计算梯度向量方向上单位向量与像素值向量的哈达玛积，哈达玛积的L2范数为第二差异；

根据各像素位置的第一差异、第二差异得到各像素位置的差异。

进一步地，I₁与颜色设计图为RGB图，所述所有通道包括R通道、G通道、B通道。

进一步地，所述根据各像素位置的差异得到各像素位置的权重包括：将各像素位置的差异分别输入映射关系模型，得到各像素位置的权重，所述映射关系模型通过历史染色数据拟合得到。

进一步地，所述方法还包括：根据历史染色数据构建训练样本集，每个训练样本包括纺织品染色之前的图像、纺织品染色之后的图像、纺织品对应的颜色设计图；获取训练样本颜色设计图与染色之前的图像各像素位置的差异，根据染色图像模型获取训练样本各像素位置的权重；拟合差异与权重之间的映射关系模型。