[发明专利]一种低温热压制备的高性能低介微波介质陶瓷及其方法有效

专利信息
申请号: 202111226100.2 申请日: 2021-10-21
公开(公告)号: CN114163241B 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 刘兵;刘娟;黄玉辉 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: C04B35/553 分类号: C04B35/553;C04B35/622;C04B35/645
代理公司: 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 代理人: 周希良
地址: 310018 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 低温 热压 制备 性能 微波 介质 陶瓷 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种低温热压制备的高性能低介微波介质陶瓷的方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)按照摩尔比例称取NaOH与NaCl粉体,将两者均匀地溶解于蒸馏水中,搅拌至混合均匀后将液体置于烘箱中烘干,得到混合均匀的NaOH-NaCl混合物粉体;

(2)称取CaF2粉末,按照质量分数比例在CaF2粉末中添加步骤(1)所得的NaOH-NaCl混合物粉体,充分研磨使两者混合均匀;

(3)将步骤(2)所得的混合粉末置于模具中,放入热压机中进行热压烧结,热压结束后获得致密的CaF2陶瓷;

(4)将步骤(3)获得的CaF2陶瓷烘干至恒重;

步骤(2)中,添加NaOH-NaCl混合物粉体的质量分数为0.5wt%~3wt%;

步骤(3)的热压烧结过程中,控制热压机的工作温度100oCT200oC、压力200MPaP800MPa。

2.根据权利要求1所述的一种低温热压制备的高性能低介微波介质陶瓷的方法,其特征在于,步骤(1)中的NaOH、NaCl粉体原料、步骤(2)中的CaF2粉末原料的纯度均为99.99%。

3.根据权利要求1或2所述的一种低温热压制备的高性能低介微波介质陶瓷的方法,其特征在于,步骤(1)中,NaOH与NaCl粉体的摩尔比例为1:1~1.2:1。

4.根据权利要求1所述的一种低温热压制备的高性能低介微波介质陶瓷的方法,其特征在于,步骤(3)中,热压烧结工艺为两步烧结:设定压力后以5oC/min的升温速度升温至100oC并保温,随后继续升温至150oC~200oC并保温;结束后逐渐冷却至室温。

5.一种低温热压制备的高性能低介微波介质陶瓷,其特征是由权利要求1-4任一项所述的方法制得。

6.如权利要求5所述一种低温热压制备的高性能低介微波介质陶瓷,其特征在于,相对密度为88%~96%,介电常数5.5εr6.3,品质因数Qf值18000GHzQf60600GHz。

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