[发明专利]晶型预测方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种晶型预测方法，其特征在于，包括：

获取目标样品的多个样品颗粒对应的衍射图像；

根据在各所述衍射图像中获取的参数信息，生成所述目标样品的初始晶型；

根据所述目标样品的已知分子结构对所述初始晶型进行修正，获得修正晶型；

根据所述修正晶型进行晶型预测，获得所述目标样品的预测晶型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标样品的多个样品颗粒对应的衍射图像，包括：

通过电子衍射分别获取所述目标样品的多个样品颗粒在预设温度的拍摄环境中的预设角度范围内的多个衍射图像。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据在各所述衍射图像中获取的参数信息，生成所述目标样品的初始晶型，包括：

分别对各所述衍射图像进行指标化处理，获取所述样品颗粒对应的参数信息；其中，所述参数信息包括晶胞参数和衍射点的衍射强度；

将多个所述样品颗粒的参数信息进行合并，获得参数合并信息；其中，所述参数合并信息中的所述衍射点的数量不少于预设数量阈值；

根据所述参数合并信息进行解析，获得所述目标样品的初始晶型；其中，所述初始晶型的分子结构错误率小于或等于预设比例阈值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标样品的已知分子结构对所述初始晶型进行修正，获得修正晶型，包括：

根据所述目标样品的已知原子和已知基团，删除所述初始晶型中与所述已知原子相异的错误原子以及删除所述初始晶型中与所述已知基团相异的错误基团，获得对应的修正晶型。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

如果所述初始晶型的分子结构错误率大于所述预设比例阈值，则丢弃所述初始晶型，并重新获取样品颗粒进行电子衍射以生成新的初始晶型。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述修正晶型进行晶型预测，获得所述目标样品的预测晶型，包括：

将所述修正晶型中的原子坐标作为离散点坐标，生成沃罗诺伊图；

获取所述沃罗诺伊图中的虚原子信息；

根据所述目标样品的已知分子结构和所述虚原子信息，对所述修正晶型中的缺失原子进行预测，获得基态能量符合预设规则的预测晶型。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述对所述修正晶型中的缺失原子进行预测，获得基态能量符合预设规则的预测晶型，包括：

根据预测的缺失原子对所述修正晶型的分子结构进行补全，获得至少一个初步预测晶型；

根据所述初步预测晶型的基态能量的数值将各所述初步预测晶型进行能量排序；

选取基态能量最低的初步预测晶型作为所述预测晶型。

8.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对所述预测晶型进行验证；其中，当所述预测晶型的模拟结构因子与实验结构因子之间的残差因子小于或等于预设值时，确定所述预测晶型验证通过。

9.一种晶型预测装置，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于获取目标样品的多个样品颗粒对应的衍射图像；

晶型生成模块，用于根据在各所述衍射图像中获取的参数信息，生成所述目标样品的初始晶型；

晶型修正模块，用于根据所述目标样品的已知分子结构对所述初始晶型进行修正，获得修正晶型；

晶型预测模块，用于根据所述修正晶型进行晶型预测，获得所述目标样品的预测晶型。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器；以及

存储器，其上存储有可执行代码，当所述可执行代码被所述处理器执行时，使所述处理器执行如权利要求1-8中任一项所述的方法。

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有可执行代码，当所述可执行代码被电子设备的处理器执行时，使所述处理器执行如权利要求1-8中任一项所述的方法。