[发明专利]飞时测距装置以及飞时测距方法在审
| 申请号: | 202111154878.7 | 申请日: | 2021-09-29 |
| 公开(公告)号: | CN113791421A | 公开(公告)日: | 2021-12-14 |
| 发明(设计)人: | 吴东佑;柏堂宏;万昇 | 申请(专利权)人: | 神盾股份有限公司 |
| 主分类号: | G01S17/10 | 分类号: | G01S17/10;G01S7/4861;G01S7/486 |
| 代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 樊涛 |
| 地址: | 中国台湾新竹市东区慈云路*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测距 装置 以及 方法 | ||
1.一种飞时测距装置,其特征在于,包括:
光源,用以朝感测目标发射雷射脉冲光;
感测阵列,包括多个感测单元,感测经由所述感测目标反射所述雷射脉冲光所产生的反射脉冲光;以及
时间至数字转换器,耦接所述感测阵列,在连续的多个积分期间对所述多个感测单元的多个感测结果进行积分操作,以产生直方图数据,
其中所述多个积分期间的至少一部分具有不同时间长度,以使所述直方图数据中的多个直条的至少一部分具有不同组距。
2.根据权利要求1所述的飞时测距装置,其特征在于,还包括:
控制电路,耦接所述光源、所述感测阵列以及所述时间至数字转换器,并且用以根据所述直方图数据来计算所述飞时测距装置与所述感测目标之间的距离参数。
3.根据权利要求2所述的飞时测距装置,其特征在于,所述控制电路根据所述直方图数据的多个直条所分别对应的多个计数值来判断所述光源发射所述雷射脉冲光至所述感测阵列接收到所述反射脉冲光的时间差。
4.根据权利要求3所述的飞时测距装置,其特征在于,所述控制电路判断所述直方图数据的所述多个直条中是否有连续多个直条的所述多个计数值分别超过预设计数值,并且所述连续多个直条的数量超过预设连续直条数量,以计算所述感测阵列接收到所述反射脉冲光的时间。
5.根据权利要求2所述的飞时测距装置,其特征在于,所述控制电路根据所述距离参数来动态调整在下一感测操作中的另多个积分期间的多个时间长度。
6.根据权利要求5所述的飞时测距装置,其特征在于,所述控制电路缩短在所述下一感测操作中接近于所述感测阵列接收到所述反射脉冲光的时间的另所述多个积分期间的至少其中之一,并且所述控制电路增长另所述多个积分期间的至少其中之另一的时间长度。
7.根据权利要求5所述的飞时测距装置,其特征在于,在所述下一感测操作中的另所述多个积分期间的所述多个时间长度经调整后,另所述多个积分期间所对应的感测总时间长度不变。
8.根据权利要求5所述的飞时测距装置,其特征在于,在所述下一感测操作中的另所述多个积分期间的所述多个时间长度经调整后,另所述多个积分期间的积分期间数量不变。
9.根据权利要求5所述的飞时测距装置,其特征在于,还包括:
存储装置,耦接所述控制电路,
其中所述时间至数字转换器在下一感测操作中的连续的另所述多个积分期间对所述多个感测单元的另多个感测结果进行另一积分操作,以产生另一直方图数据,
其中所述直方图数据与所述另一直方图数据分别在所述存储装置中占有相同的存储空间大小。
10.根据权利要求1所述的飞时测距装置,其特征在于,所述多个感测单元为多个单光子崩溃二极管。
11.一种飞时测距方法,其特征在于,包括:
透过光源朝感测目标发射雷射脉冲光;
透过感测阵列的多个感测单元感测经由所述感测目标反射所述雷射脉冲光所产生的反射脉冲光;以及
透过时间至数字转换器在连续的多个积分期间对所述多个感测单元的多个感测结果进行积分操作,以产生直方图数据,
其中所述多个积分期间的至少一部分具有不同时间长度,以使所述直方图数据中的多个直条的至少一部分具有不同组距。
12.根据权利要求11所述的飞时测距方法,其特征在于,还包括:
根据所述直方图数据来计算所述飞时测距装置与所述感测目标之间的距离参数。
13.根据权利要求12所述的飞时测距方法,其特征在于,计算所述距离参数的步骤包括:
根据所述直方图数据的多个直条所分别对应的多个计数值来判断所述光源发射所述雷射脉冲光至所述感测阵列接收到所述反射脉冲光的时间差。
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