[发明专利]提高单晶光伏组串虚焊识别率的方法在审

专利信息
申请号: 202111134330.6 申请日: 2021-09-27
公开(公告)号: CN113921411A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 陆鸣雷;徐清国;李红波;郝国强;袁晓;柳翠;叶晓军 申请(专利权)人: 华东理工大学
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L31/18;H01L21/67;G06T7/00;G06T7/136
代理公司: 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 代理人: 李鸿儒
地址: 200237 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 提高 单晶光伏组串虚焊 识别率 方法
【说明书】:

发明公开了提高单面单晶光伏组串虚焊识别率的方法,包括S1、相机及拍摄环境校准:以图像灰度量化为检测依据,在流水线生产开始前,导入标准首件对EL测试相机和测试环境进行检查,达到无明显漏光、无失焦、无过度曝光、无光晕要求;S2、单晶光伏组件虚焊识别:识别待检组件后,先以偏置电流I1进行EL测试获得EL测试图Φ1,然后以偏置电流I2进行EL测试获得EL测试图Φ2,结合两次测试结果值得到ΔΦ(i),并定义概念偏离度百分比S(i),根据判断阈值X与S(i)之间的差值大小与分布关系判断是正面虚焊还是背面虚焊。该改进是基于传统EL测试方法提出的技术改进,无需对EL硬件设备进行大规模更替,改进成本低,易于推广应用。

技术领域

本发明属于单晶光伏图像识别检测技术领域,特别涉及一种提高单面单晶光伏组串虚焊识别率的方法。

背景技术

电致发光(Electrical Luminance,EL)广泛应用于半导体照明领域内,利用该项技术,可对太阳能电池生产缺陷进行检测。在适当的正向偏置电压下,硅片电池的势垒区内建电场减弱,非平衡载流子的复合概率增加,电池片发出800~1300nm波长的近红外光,可以被CCD相机所捕获。通过对EL图像进行判断,可以无损筛查大部分硅片电池所存在的缺陷情况,是光伏组件生产质控的常用手段。

串焊工序是光伏组件制造过程中的第一步,也是核心一步。随着自动化水平的提高,国内的生产车间将串焊叠层工序逐步实现自动化生产,在生产过程中,电池组串背面由于串焊机器的不稳定会发生虚焊等现象。存在虚焊现象的组件在电站服役过程中更容易发生局部发热现象,导致组件在使用期内效率衰减现象严重,应当在生产环节进行质量卡控。

现有操作中,工厂产线通常设置层压前EL测试、层压后目测、层压后EL和IV检测三个工序点检查组件质量,三个环节中均需要安排人工进行判断,在光伏组件生产流程中的位置如图1所示。

由于单块电池片的输出电压有限,为了提高组件的输出电压,需要将电池片用焊条前后串联连接。自动化串焊机能够通过PL技术前期分选电池片,定量控制加热底板的温度梯度与焊接温度值,充分发挥机械化生产的高效化和智能化的特点。串焊完成后,先通过人工目检或摄像机图像识别的方法判定正面串焊质量,对于背面串焊情况的判定,一些工厂会要求敷设工位的工作人员在完成敷设前,对背面焊接情况进行确认,但由于不是专职进行该项监测,且没有奖励措施补充,检出率不尽人意。

为了改进上述缺陷,一般通过抽样进行电池片-焊带拉力测试,实现监控以及层压前EL测试工位进行全检。然而电池片-焊带拉力测试具有破坏性,只能周期性地对焊接质量进行监控,对机器偶发的不稳定引发的虚焊现象不能准确检出。

对于背面虚焊的工艺缺陷,在单面发电组件的制造工序中,只能通过EL测试方法进行筛选,而传统的EL检测方法对大面积组件获得的测试图像由于距离与背景因素的干扰,边缘处电池串的虚焊现象并不显著,人工识别率低。对于组件EL测试而言,由于组件样品尺寸相对于单片电池较大,每片电池到相机镜头的距离不尽相同,导致在EL成像过程中,EL强度与距离平方的倒数成正比,影响最终成图效果,相机所对的中央位置亮,边缘位置暗,影响人工对虚焊现象的判读。

发明内容

本发明是为解决上述技术问题进行的,针对工厂生产线的特点进行设计,通过量化分析电池片在两次不同偏置电压或电流的EL图像灰度差异,提出一种计算识别背面虚焊的方法,提高层压前EL测试岗位的缺陷筛查率,确保最终产品质量稳定。基于上述目标,本发明的技术方案如下:

本发明的第一方面,提供了一种提高单面单晶光伏组串虚焊识别率的方法,主体步骤如下:

S1、相机及拍摄环境校准

以图像亮度量化为检测依据,在流水线生产开始前,导入标准首件对EL测试相机和测试环境进行检查,达到无明显漏光、无失焦、无过度曝光、无光晕要求。

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