[发明专利]一种根因分析方法、装置、电子设备和介质

说明书

本申请实施例提供了一种根因分析方法、装置、电子设备和介质，涉及制造业技术领域，用以提高根因分析的效率和准确率。该方法中，首先获取多个产品的缺陷信息；多个产品流经第一工艺中的多个设备；根据缺陷信息，确定多个产品中正样本和负样本的数目；确定流经多个设备中每个设备的产品中正样本和负样本的数目；根据流经多个设备的产品中正样本和负样本的数目，以及流经每个设备的产品中正样本和负样本的数目，得到多个设备的多个分组；其中，每个分组中包括第一小组和第二小组；确定多个分组中每个分组的概率值；将概率值从小到大排序，确定多个分组中概率值靠前的N个分组；N个分组中第一小组中的设备或第二小组中的设备为根因。

技术领域

本申请涉及制造业技术领域，特别涉及一种根因分析方法、装置、电子设备和介质。

背景技术

随着科技的发展和进步，显示面板和有机发光二极管(Organic Light-EmittingDiode，OLED)显示屏等产品在生产制造过程中的工艺越来越复杂。通常制造一个手机屏幕或电脑屏幕等类似的产品从原材料的加工到制作完成需要历经数以百计的工艺，如：镀膜、清洗、刻蚀等。为了提高效率，每个工艺下又有多台生产设备同时工作，因此当产品发生不良时，想要从这些成百上千个设备找出导致产品发生不良的根因设备是非常困难的。

根因分析是一项结构化的问题处理方法，用以逐步找出问题的根本原因并加以解决，而不仅仅关注问题的表征。不同的行业对应的根因分析方法是不同的，在显示面板和OLED等高端制造业的不良根因分析中，传统的根因分析过程冗长且繁杂，且人工分析效率低，往往一个产品产生不良的根因需要数周的时间才能有结果，且结果的好坏无法保证，如果分析方向错误还需要重新进行分析。

因此，目前的根因分析方法准确性和效率较低。

发明内容

本申请实施例提供了一种根因分析方法、装置、电子设备和介质，用以提高根因分析的效率和准确率。

第一方面，本申请实施例提供了一种根因分析方法，包括：

获取多个产品的缺陷信息；所述多个产品流经第一工艺中的多个设备；所述缺陷信息是根据所述产品的尺寸和所述产品出现缺陷的区域的尺寸确定的；根据所述缺陷信息，确定所述多个产品中正样本的数目和负样本的数目；其中，所述正样本是所述缺陷信息大于或等于第一阈值的样本，所述负样本是所述缺陷信息小于所述第一阈值的样本；确定流经所述多个设备中每个设备的产品中正样本的数目和负样本的数目；根据所述流经所述多个设备的产品中正样本的数目和负样本的数目，以及所述流经每个设备的产品中正样本的数目和负样本的数目，得到所述多个设备的多个分组；其中，每个分组中包括第一小组和第二小组，所述第一小组中的设备数量和所述第二小组中的设备数量之和等于所述多个设备的数量；确定所述多个分组中每个分组的概率值；所述概率值表示所述分组错误的概率；将所述概率值从小到大排序，确定所述多个分组中所述概率值靠前的N个分组；所述N个分组中第一小组中的设备或第二小组中的设备为根因。

现有的根因分析方法大都依据缺陷产品的所有履历信息对一个工艺中单一设备上的参数进行分析。这种根因分析方法效率较低。而且这种根因分析方法是从单一设备出发进行根因分析的，没有考虑多个设备为根因的可能性。基于上述方案，通过对缺陷产品的缺陷信息进行根因分析并且对多个设备组合为根因的情况加以考虑可以提高根因分析效率和准确性。

一种可能的实现方式，所述获取多个产品的缺陷信息，包括：获取所述多个产品的履历信息；所述履历信息包括所述产品的工艺标识、所述产品在生产过程中流经的设备的设备标识和所述产品的缺陷信息；根据所述履历信息，获取所述多个产品的缺陷信息。

基于上述方案，获取缺陷产品的缺陷信息，可以减少用于根因分析的数据量。