[发明专利]一种用于集成电路测试的芯片转换插座

说明书

本发明公开了一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其结构包括主体、插孔、引脚，主体的内部设有插孔，插孔设有八个以上，且横向排列于主体的两端，引脚安装在插孔的内部，主体包括升降槽、平衡装置、复位弹簧，平衡装置包括复位按钮、顶块、卡合装置、平衡块、拉伸弹簧，卡合装置包括滑动槽、滑动块、连接杆、导向板、卡合块，卡合块包括卡合杆、活动槽、侧滑块、弹力片、限位块，限位块包括限位体、防滑块、空槽、支撑条、摩擦槽，本发明利用平衡块能够平稳的往升降槽中收缩，从而能够将引脚精准的插入到检测设备的插孔中，防止主体中的引脚在插孔中歪斜，避免引脚反复弯折出现断裂的情况。

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术领域，具体的是一种用于集成电路测试的芯片转换插座。

背景技术

在集成电路设计完成之后通常都是需要按照预设的方案进行电子器件的转换插座插接来验证，在检验的过程中需要将芯片插接在转换插座中，在将面板版插接在检测仪器中进行检验，从而能够将不同型号的芯片进行检测。

基于上述本发明人发现，现有的一种用于集成电路测试的芯片转换插座主要存在以下几点不足，例如：由于转换插座插接芯片在进行检测的过程中需要反复在检测设备中进行拔起与插接，当检测人员对转换插座按压的力不均衡，则转换插座引脚置于检测设备插孔中会被掰歪，反复进行检测操作，转换插座的引脚会反复受到弯折，造成引脚出现断裂的情况。

发明内容

针对上述问题，本发明提供一种用于集成电路测试的芯片转换插座。

为了实现上述目的，本发明是通过如下的技术方案来实现：一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其结构包括主体、插孔、引脚，所述主体的内部设有插孔，所述插孔设有八个以上，且横向排列于主体的两端，所述引脚安装在插孔的内部，所述主体包括升降槽、平衡装置、复位弹簧，所述升降槽设有两个，且分别设置在主体的内部两端，所述平衡装置分别卡合于两个升降槽中，所述复位弹簧安装在左侧的升降槽中，所述复位弹簧与平衡装置活动配合。

进一步的，所述平衡装置包括复位按钮、顶块、卡合装置、平衡块、拉伸弹簧，所述复位按钮卡合于升降槽的顶端，所述顶块嵌固在复位按钮的底部正中间，所述卡合装置卡合于升降槽的内部上端，且与顶块相配合，所述平衡块卡合于升降槽，且贯穿升降槽的底部，所述卡合装置与平衡块活动配合，所述平衡块的底部两端相对齐。

进一步的，所述卡合装置包括滑动槽、滑动块、连接杆、导向板、卡合块，所述滑动槽设置在升降槽的内部，所述滑动块卡合于滑动槽中，所述连接杆嵌固在滑动块的顶部，所述导向板嵌固于连接杆的顶端，所述卡合块位于滑动块的底部，所述导向板的端面由右向左往下倾斜45度。

进一步的，所述卡合块包括卡合杆、活动槽、侧滑块、弹力片、限位块，所述卡合杆嵌固在滑动块的底部，所述活动槽位于卡合杆的内部底端，所述侧滑块卡合于活动槽的内部，所述弹力片设有两个，且分别嵌固在侧滑块的后端，所述限位块连接于侧滑块的底部，所述弹力片为弹簧钢材质。

进一步的，所述限位块包括限位体、防滑块、空槽、支撑条、摩擦槽，所述限位体的底部端面为倾斜状，且倾斜度45度，所述防滑块嵌固在限位体的顶端，所述空槽位于防滑块的内部，所述支撑条设有五个，且横向排列于空槽中，所述摩擦槽设有五个以上，且横向排列于防滑块的上端面，所述摩擦槽为三角形状。

进一步的，所述平衡块包括水平杆、卡位块、凸块、贯穿杆、支撑座，所述水平杆的两端连接于两个平衡块，所述卡位块嵌固在水平杆的后端，所述凸块设有四个，且横向排列于卡位块的底部，所述贯穿杆嵌固于水平杆的侧端底部，所述支撑座设置在贯穿杆的底部，所述凸块为橡胶材质。

进一步的，所述支撑座包括支撑体、切槽、支撑垫、连接座，所述支撑体嵌固在贯穿杆的底部，所述切槽位于支撑体的底部正中间，所述支撑垫设有两个，且分别嵌固在支撑体的底部两端，所述支撑体嵌固于支撑体的顶部正中间，且与贯穿杆相连接，所述切槽为梯形状。