[发明专利]一种用于集成电路测试的芯片转换插座

权利要求书

1.一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其结构包括主体(1)、插孔(2)、引脚(3)，所述主体(1)的内部设有插孔(2)，所述插孔(2)设有八个以上，且横向排列于主体(1)的两端，所述引脚(3)安装在插孔(2)的内部，其特征在于：

所述主体(1)包括升降槽(11)、平衡装置(12)、复位弹簧(13)，所述升降槽(11)设有两个，且分别设置在主体(1)的内部两端，所述平衡装置(12)分别卡合于两个升降槽(11)中，所述复位弹簧(13)安装在左侧的升降槽(11)中。

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：所述平衡装置(12)包括复位按钮(121)、顶块(122)、卡合装置(123)、平衡块(124)、拉伸弹簧(125)，所述复位按钮(121)卡合于升降槽(11)的顶端，所述顶块(122)嵌固在复位按钮(121)的底部正中间，所述卡合装置(123)卡合于升降槽(11)的内部上端，且与顶块(122)相配合，所述平衡块(124)卡合于升降槽(11)，且贯穿升降槽(11)的底部。

3.根据权利要求2所述的一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：所述卡合装置(123)包括滑动槽(a1)、滑动块(a2)、连接杆(a3)、导向板(a4)、卡合块(a5)，所述滑动槽(a1)设置在升降槽(11)的内部，所述滑动块(a2)卡合于滑动槽(a1)中，所述连接杆(a3)嵌固在滑动块(a2)的顶部，所述导向板(a4)嵌固于连接杆(a3)的顶端，所述卡合块(a5)位于滑动块(a2)的底部。

4.根据权利要求3所述的一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：所述卡合块(a5)包括卡合杆(a51)、活动槽(a52)、侧滑块(a53)、弹力片(a54)、限位块(a55)，所述卡合杆(a51)嵌固在滑动块(a2)的底部，所述活动槽(a52)位于卡合杆(a51)的内部底端，所述侧滑块(a53)卡合于活动槽(a52)的内部，所述弹力片(a54)设有两个，且分别嵌固在侧滑块(a53)的后端，所述限位块(a55)连接于侧滑块(a53)的底部。

5.根据权利要求4所述的一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：所述限位块(a55)包括限位体(b1)、防滑块(b2)、空槽(b3)、支撑条(b4)、摩擦槽(b5)，所述限位体(b1)的底部端面为倾斜状，且倾斜45度，所述防滑块(b2)嵌固在限位体(b1)的顶端，所述空槽(b3)位于防滑块(b2)的内部，所述支撑条(b4)设有五个，且横向排列于空槽(b3)中，所述摩擦槽(b5)设有五个以上，且横向排列于防滑块(b2)的上端面。

6.根据权利要求2所述的一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：所述平衡块(124)包括水平杆(c1)、卡位块(c2)、凸块(c3)、贯穿杆(c4)、支撑座(c5)，所述水平杆(c1)的两端连接于两个平衡块(124)，所述卡位块(c2)嵌固在水平杆(c1)的后端，所述凸块(c3)设有四个，且横向排列于卡位块(c2)的底部，所述贯穿杆(c4)嵌固于水平杆(c1)的侧端底部，所述支撑座(c5)设置在贯穿杆(c4)的底部。

7.根据权利要求6所述的一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：所述支撑座(c5)包括支撑体(c51)、切槽(c52)、支撑垫(c53)、连接座(c54)，所述支撑体(c51)嵌固在贯穿杆(c4)的底部，所述切槽(c52)位于支撑体(c51)的底部正中间，所述支撑垫(c53)设有两个，且分别嵌固在支撑体(c51)的底部两端，所述支撑体(c51)嵌固于支撑体(c51)的顶部正中间，且与贯穿杆(c4)相连接。

8.根据权利要求7所述的一种用于集成电路测试的芯片转换插座，其特征在于：所述支撑垫(c53)包括平稳垫(d1)、形变槽(d2)、贴合槽(d3)，所述平稳垫(d1)嵌固在支撑体(c51)的底部两端，所述形变槽(d2)位于平稳垫(d1)的内部，所述贴合槽(d3)设有五个，且横向排列于平稳垫(d1)的底部端面。