[发明专利]一种桥芯片线路板中贵金属含量测试方法及试样制备方法

权利要求书

1.一种桥芯片线路板中贵金属含量测试的试样制备方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、按照标准取线路板样品，并记录线路板样品的重量为M₀；

S2、将所述线路板样品放入200℃的电磁加热板上进行加热，用工具进行各组件脱离，得到光板、卡槽、芯片及其他元器件，并对应记录重量为M_组件，得到各组件在线路板样品的重量占比W_组件＝M_组件/M₀；

S3、将各组件放置到600℃马沸炉中灼烧30min-40min；

S4、冷却后对各组件进行称量并记录为M_剩余，并得到各组件的烧失率D_组件＝(M_组件-M_剩余)/M_组件；

S5、将灼烧后的各组件放入洁净干燥的研磨仪中分批进行研磨，研磨后将各组件粉末分别过预设目数的筛网，分别得到各组件的至少两组试样，并记录重量为M_组件目数。

2.根据权利要求1所述的一种桥芯片线路板中贵金属含量测试的试样制备方法，其特征在于：在S2步骤中通过镊子对加热后的各组件进行脱离，得到光板、卡槽和其他元器件的一种作为第一目标组件，并记录重量为M_目标。

3.根据权利要求2所述的一种桥芯片线路板中贵金属含量测试的试样制备方法，其特征在于：

将重量为M_目标的第一目标组件放置在重量为M_铁盘的铁盘中，并将铁盘和第一目标组件放置在600℃马沸炉中灼烧30min；

冷却后将第一目标组件进行称量并记录为M_目标剩余，并得到该第一目标组件的烧失率D_目标；

将第一目标组件在研磨仪中分批次研磨处理直至研磨完成，其中所述分批次研磨处理包括在研磨仪转速为1500转/min的设定下，每次放入100-200g并加入几滴酒精进行研磨10s；

将研磨完成的第一目标组件粉末过60目筛和100目筛，得到60目筛上、60-100目筛中、100目筛下的第一目标件试样，并分别记录为M_目标60、M_目标60-100、M_目标100。

4.根据权利要求1所述的一种桥芯片线路板中贵金属含量测试的试样制备方法，其特征在于：

在S2步骤中通过镊子对加热后的各组件进行脱离，得到芯片作为第二目标组件，并记录重量为M_芯片；

在限制区域内用铁锤敲掉桥芯片上的金属片，分别收集得到金属片和塑料，并称重记录重量为M_金属片和M_塑料，得到塑料在芯片的重量占比W_塑料＝M_塑料/M_芯片。

5.根据权利要求4所述的一种桥芯片线路板中贵金属含量测试的试样制备方法，其特征在于：

将塑料分批次放入粉碎机中进行粉碎，每次放入200-300g，每次持续60s，同时加入1ml酒精进行粉碎；

将重量为M_塑料的塑料粉碎后放置在重量为M_铁盘的铁盘中，并将铁盘和塑料放置在600℃马沸炉中灼烧30min-40min；

冷却后将塑料进行称量并记录为M_塑料剩余，并得到该塑料的烧失率D_塑料；

将塑料在研磨仪中分批次研磨处理直至研磨完成，其中所述分批次研磨处理包括在研磨仪转速为1500转/min的设定下，每次放入100-200g并加入几滴酒精进行研磨10s；

将研磨完成的塑料粉末过80目筛，得到80目筛上、80下的塑料试样，并分别记录为M_塑料80-和M_塑料80+。