[发明专利]一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备及检测分类方法

说明书

本发明公开一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，包括倾斜设置的机架，所述机架上表面从位置较高的一端到位置较低的一端依次设有相互连通的下料组件、耐压测试组件、电性测试组件和循环组件，所述耐压测试组件侧面设有与其连通的耐压不良品收料组件，所述循环组件位置较低的一端设有与其内部连通的分料组件，所述分料组件包括良品出料组件和数个不良品出料组件。本发明可对电性测试之后的集成芯片进行分类，同时在可循环治具进行循环。

技术领域

本发明属于集成芯片PIN检测及分类领域，具体涉及一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备及检测分类方法。

背景技术

集成芯片在生产的过程中需要对PIN进行检测，并区分检测后的PIN的良品和不良品。传统的设备只具备单纯的检测和区分良品与不良品的功能，并不能对不良品再次进行区分。同时，传统的设备检测时装载集成芯片的治具需要人工进行循环，或者通过一些简单的结构辅助进行循环。上述缺陷大大的制约了PIN不良分类的效率，同时也降低了分类的精度。现有技术中存在一些解决上述问题的相关的探索，但都不能满足实际的需求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备及检测分类方法，可对电性测试之后的集成芯片进行分类，同时在可循环治具进行循环。

本发明所采用的技术方案是：一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，包括倾斜设置的机架，所述机架上表面从位置较高的一端到位置较低的一端依次设有相互连通的下料组件、耐压测试组件、电性测试组件和循环组件，所述耐压测试组件侧面设有与其连通的耐压不良品收料组件，所述循环组件位置较低的一端设有与其内部连通的分料组件，所述分料组件包括良品出料组件和数个不良品出料组件。

其中一个实施例中，所述循环组件包括倾斜设置的下导向板和设置于下导向板上方且倾斜设置的上导向板，所述上导向板位置较高的一侧其中一端设有进料轨道，所述上导向板和下导向板上均设有与其相对滑动的数个循环治具，所循环治具上开有与集成芯片匹配且可供集成芯片位移的滑槽，当所述循环治具移动到与进料轨道对应的位置时，所述循环治具的滑槽与进料轨道连通，所述上导向板靠近进料轨道的一端与位于上导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿上导向板移动的上侧推机构，所述上导向板远离进料轨道的一端上方设有推动循环治具下移的下推机构，所述下导向板远离进料轨道的一端与位于下导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿下导向板移动的下侧推机构，所述下导向板靠近进料轨道的一端下方设有推动循环治具上移的顶升机构。

其中一个实施例中，所述上导向板和下导向板至少其中一侧面设有侧板，所述侧板分别与上导向板和下导向板连接，所述上导向板顶部设有与侧板连接的顶板。

其中一个实施例中，所述顶板上表面设有产品检测光纤，所述产品检测光纤设置于与进料轨道对应的循环治具上方。

其中一个实施例中，所述上侧推机构、下推机构、下侧推机构和顶升机构均包括推动循环治具移动的推板和与推板连接且驱动所述推板移动的推料气缸。

其中一个实施例中，所述分料组件包括设置于循环组件位置较低的侧面的良品出料组件和数个不良品出料组件，所述良品出料组件和数个不良品出料组件均通过上移或下移与循环治具的滑槽连通，所述良品出料组件设置于与循环组件的进料轨道对应的位置，数个所述不良品出料组件从靠近进料轨道的一端到远离进料轨道的一端依次延伸。

其中一个实施例中，数个所述不良品出料组件包括但不限于DCR不良品出料组件、LK不良品出料组件、LX不良品出料组件、BL不良品出料组件、TR不良品出料组件和多种不良品出料组件。

其中一个实施例中，所述良品出料组件和每个不良品出料组件均包括气缸安装板和出料块，所述气缸安装板上设有与出料块连接且驱动出料块上移和下移的驱动气缸，所述出料块上设有与进料轨道连通且可供集成芯片通过的出料槽。

其中一个实施例中，所述出料块顶部设有盖板。