[发明专利]一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备及检测分类方法

权利要求书

1.一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，包括倾斜设置的机架，其特征在于，所述机架上表面从位置较高的一端到位置较低的一端依次设有相互连通的下料组件、耐压测试组件、电性测试组件和循环组件，所述耐压测试组件侧面设有与其连通的耐压不良品收料组件，所述循环组件位置较低的一端设有与其内部连通的分料组件，所述分料组件包括良品出料组件和数个不良品出料组件。

2.根据权利要求1所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述循环组件包括倾斜设置的下导向板和设置于下导向板上方且倾斜设置的上导向板，所述上导向板位置较高的一侧其中一端设有进料轨道，所述上导向板和下导向板上均设有与其相对滑动的数个循环治具，所循环治具上开有与集成芯片匹配且可供集成芯片位移的滑槽，当所述循环治具移动到与进料轨道对应的位置时，所述循环治具的滑槽与进料轨道连通，所述上导向板靠近进料轨道的一端与位于上导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿上导向板移动的上侧推机构，所述上导向板远离进料轨道的一端上方设有推动循环治具下移的下推机构，所述下导向板远离进料轨道的一端与位于下导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿下导向板移动的下侧推机构，所述下导向板靠近进料轨道的一端下方设有推动循环治具上移的顶升机构。

3.根据权利要求2所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述上导向板和下导向板至少其中一侧面设有侧板，所述侧板分别与上导向板和下导向板连接，所述上导向板顶部设有与侧板连接的顶板。

4.根据权利要求3所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述顶板上表面设有产品检测光纤，所述产品检测光纤设置于与进料轨道对应的循环治具上方。

5.根据权利要求4所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述上侧推机构、下推机构、下侧推机构和顶升机构均包括推动循环治具移动的推板和与推板连接且驱动所述推板移动的推料气缸。

6.根据权利要求1或2所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述分料组件包括设置于循环组件位置较低的侧面的良品出料组件和数个不良品出料组件，所述良品出料组件和数个不良品出料组件均通过上移或下移与循环治具的滑槽连通，所述良品出料组件设置于与循环组件的进料轨道对应的位置，数个所述不良品出料组件从靠近进料轨道的一端到远离进料轨道的一端依次延伸。

7.根据权利要求6所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，数个所述不良品出料组件包括但不限于DCR不良品出料组件、LK不良品出料组件、LX不良品出料组件、BL不良品出料组件、TR不良品出料组件和多种不良品出料组件。

8.根据权利要求7所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述良品出料组件和每个不良品出料组件均包括气缸安装板和出料块，所述气缸安装板上设有与出料块连接且驱动出料块上移和下移的驱动气缸，所述出料块上设有与进料轨道连通且可供集成芯片通过的出料槽。

9.根据权利要求8所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述出料块顶部设有盖板。

10.一种集成芯片PIN检测分类方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤10、将装有集成芯片的料管放置于下料组件上，进入步骤20；

步骤20、下料组件工作，将料管内的集成芯片逐一送入耐压测试组件，进入步骤30；

步骤30、耐压测试组件工作，对通过的集成芯片进行耐压测试，如耐压测试合格，集成芯片进入电性测试组件，进入步骤40，如耐压测试不合格，该不合格的集成芯片进入耐压不良品收料组件并由耐压不良品收料组件排出；

步骤40、电性测试组件工作，对通过的集成芯片进行电性测试，进入步骤50；

步骤50、经电性测试的集成芯片通过进料轨道进入循环治具，循环组件工作，根据步骤40中的检测结果，将装有集成芯片的循环治具推送到对应的良品出料组件或不良品出料组件，进入步骤60；

步骤60、良品出料组件或不良品出料组件对应的驱动气缸驱动出料块移动且将出料块与对应的循环治具的滑槽连通，集成芯片进入出料块并排出。