[发明专利]一种用于复合探测的干扰识别方法

权利要求书

1.一种用于复合探测的干扰识别方法，其特征在于，步骤如下：

步骤1、利用激光探测系统和无线电探测系统对目标进行复合探测，激光探测系统和无线电探测系统分别采集m个探测周期内的回波信号，m＝4～10，激光探测系统解算出第一目标距离，无线电探测系统解算出第二目标距离，第一目标距离和第二目标距离融合形成样本数据矩阵H₀：

其中，x⁽⁰⁾为第一目标距离的样本数据序列，y⁽⁰⁾为第二目标距离的样本数据序列，x_i⁽⁰⁾和y_i⁽⁰⁾分别表示根据第i个探测周期的回波信号解算出的第一目标距离和第二目标距离，i＝1，2，…，m；

步骤2、根据样本数据矩阵H₀，利用灰色系统理论，建立目标距离预测模型；

步骤3、根据样本数据矩阵H₀和目标距离预测模型，计算样本数据的残差矩阵H₃和标准化残差矩阵H₄；

步骤4、通过目标距离预测模型计算x_m+1⁽⁰⁾和y_m+1⁽⁰⁾的预测值和以此类推，求出第m+2、…、m+n个探测周期内第一目标距离和第二目标距离的预测值；

步骤5、激光探测系统和无线电探测系统将实时处理的距离信息反馈给探测信息综合处理模块，探测信息综合处理模块判断激光探测系统和无线电探测系统是否受到干扰，输出最终探测结果。

2.根据权利要求1所述的用于复合探测的干扰识别方法，其特征在于：

步骤2中，根据样本数据矩阵H₀，利用灰色系统理论，建立目标距离预测模型，具体步骤如下：

将样本数据矩阵H₀进行一次累加生成一阶数据矩阵H₁：

其中：x⁽¹⁾和y⁽¹⁾分别对应第一目标距离和第二目标距离的样本数据序列经过一次累加生成的一阶数据序列，k表示一次累加生成的参量在一阶数据序列中的序号，i表示探测周期序号；

对一阶数据序列建立白化微分方程：

其中，a₁和a₂分别对应第一发展灰数和第二发展灰数，u₁和u₂分别对应第一内生控制灰数和第二内生控制灰数；

记第一过渡矩阵A₁＝[a₁,u₁]^T，第二过渡矩阵A₂＝[a₂,u₂]^T，用最小二乘法求解参数a₁，a₂，u₁和u₂，得联合过渡矩阵A：

式中：

对上述白化微分方程求解，得到近似解

其中，和分别对应x_k+1⁽⁰⁾和y_k+1⁽⁰⁾的一阶预测值；

令和分别对应x_k+1⁽⁰⁾和y_k+1⁽⁰⁾的预测值，则目标距离预测模型为