[发明专利]一种电容外观检测控制方法及装置在审
申请号: | 202110976735.8 | 申请日: | 2021-08-24 |
公开(公告)号: | CN113884504A | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
发明(设计)人: | 郭名鹏;王桂林;黄珏皓;郭馨予;黄光显;何必仕 | 申请(专利权)人: | 湖南云眼智能装备有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/01;B07C5/34 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 肖宇扬 |
地址: | 412000 湖南省株洲市天元区创业*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电容 外观 检测 控制 方法 装置 | ||
本发明公开了一种电容外观检测控制方法及装置,该方法包括:获取待处理电容图像信息;待处理电容图像信息包括若干张待处理电容图像;根据待处理电容图像信息和预设的人工智能模型,确定出外观检测类型集合;外观检测类型集合包括至少一个待处理电容图像对应的外观检测类型;根据外观检测类型集合,确定出目标电容对应的目标类型。可见,本发明能够通过获取待处理电容图像信息,以及预设的人工智能模型得到外观检测类型集合,并由此确定出目标电容对应的目标类型,有利于解决电容外观检测过程中对电容外观的检测不全面问题和提升对电容外观的检测效率,进而提升电容外观检测的可靠性和电容的产品质检的有效性。
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种电容外观检测控制方法及装置。
背景技术
电容制造企业目前采用的通常是通过人工检查外观,不能对电容外观进行全方位的检测,容易出现漏检的问题,检测效率也不高。因此,提供一种电容外观检测控制方法以解决电容外观检测过程中对电容外观的检测不全面问题和提升对电容外观的检测效率,进而提升电容外观检测的可靠性和电容的产品质检的有效性显得尤为重要。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种电容外观检测控制方法及装置,能够提供一种电容外观检测控制方法,以解决电容外观检测过程中对电容外观的检测不全面问题和提升对电容外观的检测效率,进而提升电容外观检测的可靠性和电容的产品质检的有效性。
为了解决上述技术问题,本发明实施例第一方面公开了一种电容外观检测控制方法,所述方法包括:
获取待处理电容图像信息;所述待处理电容图像信息包括若干张待处理电容图像;
根据所述待处理电容图像信息和预设的人工智能模型,确定出外观检测类型集合;所述外观检测类型集合包括至少一个所述待处理电容图像对应的外观检测类型;
根据所述外观检测类型集合,确定出目标电容对应的目标类型。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,所述根据所述待处理电容图像信息和预设的人工智能模型,确定出外观检测类型集合,包括:
对于待处理电容图像信息中的任一所述待处理电容图像,根据该待处理电容图像和预设的人工智能模型,确定出该待处理电容图像对应的浮点数;
根据所述浮点数和预设的阈值分类规则,确定出该待处理电容图像对应的外观检测类型。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,所述根据所述外观检测类型集合,确定出目标电容对应的目标类型,包括:
根据所述外观检测类型集合和预设的类型判别规则,确定出所述目标电容对应的目标类型;所述类型判别规则与所述目标类型对应的外观检测类型的数量相关。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,所述根据所述外观检测类型集合和预设的类型判别规则,确定出所述目标电容对应的目标类型,包括:
对所述外观检测类型集合中所有所述待处理电容图像对应的外观检测类型进行数量统计处理,得到外观检测类型数量信息;
根据所述外观检测类型数量信息和预设的类型判别规则,确定出所述目标电容对应的目标类型。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,在获取待处理电容图像信息之前,所述方法还包括:
获取原始电容图像信息;所述原始电容图像信息包括若干张原始电容图像;
对所述原始电容图像信息进行处理,得到待选电容图像信息;所述待选电容图像信息包括若干张待选电容图像。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,在所述对所述原始电容图像信息进行处理,得到待选电容图像信息之后,所述方法还包括:
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