[发明专利]分析电芯内部组件阻抗的方法

权利要求书

1.一种分析电芯内部组件阻抗的方法，其特征在于，采用EIS测试方法，通过设定不同的扫描频率，对所述电芯进行测试，以分别获取所述电芯的接触阻抗Rs、SEI膜阻抗Rf和传荷阻抗Rct，以计算Rs、Rf或Rct在所述电芯的总阻抗(Rs+Rf+Rct)中的占比情况；

其中，包括以下步骤：

S1、获取所述电芯正极片和负极片的集流体，分别测试以获得所述电芯的正极结构件阻抗Rs1和负极结构件阻抗Rs2；

S2、采用扣电组装测试方法对所述电芯的隔膜进行测试，以获得所述电芯的隔膜电解液阻抗Rs5；

S3、获取所述电芯的正极片、负极片和隔膜，由两个正极片和一个隔膜组装成第一单片电池，由两个负极片和一个隔膜组装成第二单片电池；分别对所述第一单片电池和所述第二单片电池进行EIS测试，以获得所述电芯的正极颗粒层阻抗Rs3和负极颗粒层阻抗Rs4；

上述各步骤无顺序限制。

2.根据权利要求1所述的分析电芯内部组件阻抗的方法，其特征在于：所述EIS测试采用Zahner电化学工作站进行。

3.根据权利要求2所述的分析电芯内部组件阻抗的方法，其特征在于：所述EIS测试的结果通过Zview软件进行拟合。

4.根据权利要求1所述的分析电芯内部组件阻抗的方法，其特征在于：在获取Rs、Rs3和Rs4的测试中，扫描频率范围为100KHz～10MHz。

5.根据权利要求1所述的分析电芯内部组件阻抗的方法，其特征在于：所述电芯为选定SOC状态下的电芯，且步骤S3中的正极片和负极片通过拆解该SOC状态下的所述电芯获取。

6.根据权利要求1所述的分析电芯内部组件阻抗的方法，其特征在于：在步骤S2中，裁剪直径为D的n片所述隔膜并辅以所述电芯的电解液组装扣式电池，并通过EIS测试获得该扣式电池的阻抗Rn，其中，n分别取1～N之间的各个整数，N为大于1的整数；以n为X坐标值、Rn为Y坐标值绘制出直线，取该直线的斜率为单片隔膜的隔膜电解液阻抗R，并通过如下的公式计算Rs5：其中，S为所述电芯中隔膜的面积，m为所述电芯中隔膜的层数。

7.根据权利要求6所述的分析电芯内部组件阻抗的方法，其特征在于：D介于10～30mm之间。

8.根据权利要求6所述的分析电芯内部组件阻抗的方法，其特征在于：N取3、4或5。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的分析电芯内部组件阻抗的方法，其特征在于：将Rs1、Rs2、Rs3、Rs4和Rs5的累加值作为所述电芯的接触阻抗，由Rs1、Rs2、Rs3、Rs4和Rs5分别除以该接触阻抗，以计算所述电芯各内部组件的阻抗占比情况。