[发明专利]基于电流控制的实验室吸收谱装置以及吸收谱获取方法

权利要求书

1.一种基于电流控制的实验室吸收谱装置，其特征在于，所述装置包括：控制器、与所述控制器连接的X光管、弯晶分析器、狭缝、样品、探测器以及与所述探测器连接的信号处理系统；

其中，所述X光管、弯晶分析器以及探测器分别置于一罗兰圆；所述狭缝以及样品依次设置在所述弯晶分析器与探测器之间；由所述X光管发射的X射线依次经过所述弯晶分析器、狭缝以及样品，由所述探测器接收；

所述探测器，用于分别采集在所述探测器前未放置所述样品以及在所述探测器前已放置所述样品的两种情况下在不同能量点下的死时间以及计数强度；

所述控制器，用于根据所述探测器采集的在不同能量点下的死时间控制所述X光管的电流；

所述信号处理系统，连接所述控制器，用于根据所述在所述探测器前未放置所述样品以及在所述探测器前已放置所述样品的两种情况下在不同能量点下的计数强度以及其所对应的电流来获得在不同能量点下的的吸收系数。

2.根据权利要求1中所述的基于电流控制的实验室吸收谱装置，其特征在于，所述控制器包括：

初始值设置模块，用于设置对应在所述探测器前未放置所述样品情况下的第一初始电流值以及在所述探测器前已放置所述样品的情况下的第二初始电流值；

电流判断模块，用于根据所述探测器采集在所述探测器前未放置所述样品以及在所述探测器前已放置所述样品的两种情况下在不同能量点下的死时间，判断对应的第一初始电流值以及第二初始电流值是否符合标准；若符合标准，将所述第一初始电流值和/或第二初始电流值作为第一最终电流值和/或第二最终电流值；否则，调节所述第一初始电流值和/或第二初始电流值，将调节后的电流值作为第一最终电流值和/或第二最终电流值；

最终电流值设置模块，用于将对应所述探测器采集在所述探测器前未放置所述样品以及在所述探测器前已放置所述样品的两种情况下的最终电流值依次设置为第一最终电流值以及第二最终电流值，以供所述探测器在第一最终电流值以及第二最终电流值下分别采集在不同能量点下的的第一计数强度以及第二计数强度。

3.根据权利要求2中所述的基于电流控制的实验室吸收谱装置，其特征在于，所述电流判断模块包括：

标准判断单元，用于判断所述探测器采集在所述探测器前未放置所述样品以及在所述探测器前已放置所述样品的两种情况下在不同能量点下的死时间是否在标准范围内；若在标准范围内，则判断对应的第一初始电流值和/或第二初始电流值符合标准；否则，判断对应的第一初始电流值和/或第二初始电流值不符合标准；

调节单元，连接所述标准判断单元，用于当判断对应的第一初始电流值和/或第二初始电流值不符合标准时且对应的死时间低于所述标准范围的最低值，则增加第一初始电流和/或第二初始电流值，以作为第一最终电流值和/或第二最终电流值；当判断对应的第一初始电流值和/或第二初始电流值不符合标准时且对应的死时间高于所述标准范围的最高值，则降低第一初始电流和/或第二初始电流值，以作为第一最终电流值和/或第二最终电流值。

4.根据权利要求2或3中所述的基于电流控制的实验室吸收谱装置，其特征在于，所述信号处理系统包括：

获取模块，用于获取所述第一最终电流值、第二最终电流值以及第一计数强度以及第二计数强度；

计算模块，连接所述获取模块，用于基于吸收系数表达式，根据所述第一最终电流值、第二最终电流值以及第一计数强度以及第二计数强度获得在不同能量点下的的吸收系数。

5.根据权利要求4中所述的基于电流控制的实验室吸收谱装置，其特征在于，所述吸收系数表达式包括：

其中，所述吸收系数A，Current0‘为第一最终电流值，Current1‘为第二最终电流值，I0'为第一计数强度以及I1'为第二计数强度。

6.根据权利要求1中所述的基于电流控制的实验室吸收谱装置，其特征在于，不同能量点由调节所述X光管、弯晶分析器以及探测器的相对角度获得。

7.根据权利要求2中所述的基于电流控制的实验室吸收谱装置，其特征在于，所述第一初始电流值和第二初始电流值相同。