[发明专利]一种适用于星载变PRF SAR系统的成像方法有效
申请号: | 202110965511.7 | 申请日: | 2021-08-23 |
公开(公告)号: | CN113671503B | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
发明(设计)人: | 张双喜;曾红芸;胡国彩 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 西安凯多思知识产权代理事务所(普通合伙) 61290 | 代理人: | 刘新琼 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适用于 星载变 prf sar 系统 成像 方法 | ||
1.一种适用于星载变PRF SAR系统的成像方法,其特征在于步骤如下:
步骤1:获取的杂波抑制之后雷达系统回波信号是二维矩阵S(tn,tm),S(tn,tm)为nrn×nan维矩阵,其中,矩阵的每一行数据都是对回波方位维进行非均匀采样得到的结果;对矩阵的列进行FFT处理,即实现雷达回波信号的距离向傅里叶变换,并将结果分别保存在矩阵S(fn,tm)中;
其中,tn为距离快时间,tm为非均匀采样方位慢时间,fn表示为距离向频域坐标,B为发射信号带宽,Δf为距离频域间隔,n=0,1,...,nrn-1,nrn表示距离向点数,nan表示方位向点数;
步骤2:根据已知的雷达参数,构造参考信号向量S_ref(i,1),i=1,2...nrn,S_ref(i,1)为nrn×1向量;
步骤3:取出步骤1得到的S(fn,tm)的每一列,点乘参考信号向量S_ref(i,1)的共轭,得到距离脉压后的数据矩阵S(fn,tm);
步骤4:根据已知的雷达参数,构造非线性变标校正矩阵H_CS(i,j),H_CS(i,j)为nrn×nan矩阵;
步骤5:取出步骤3得到的S(fn,tm)点乘校正矩阵H_CS(i,j)的共轭,得到非线性变标校正之后的数据矩阵S'(fn,tm');其中,tm'表示方位均匀采样时间序列;
步骤6:根据已知的雷达参数,构造距离弯曲校正矩阵Self_RCMC(fn,fm),Self_RCMC(fn,fm)为nrn×nan矩阵;
步骤7:取出步骤5得到的S'(fn,tm')进行方位维的傅里叶变换,再二维频域内点乘参考信号向量Self_RCMC(fn,fm),并进行距离方位的二维傅里叶逆变换得到弯曲校正之后的数据矩阵S”(tn,tm');
步骤8:取出步骤7得到的S”(tn,tm'),对数据进行时延补偿并进行相干累加,并将结果保存在矩阵Ssum(tn,tm')中,即为获得的聚焦地面目标成像结果图。
2.根据权利要求1所述一种适用于星载变PRF SAR系统的成像方法,其特征在于步骤2具体如下:根据已知的雷达参数,参考信号向量其中,γ表示调频率,γ=B/Tp,B表示发射信号带宽,Tp表示发射脉冲宽度,fr表示为距离向频域。
3.根据权利要求1所述一种适用于星载变PRF SAR系统的成像方法,其特征在于步骤4具体如下:
根据已知的雷达参数,脉冲重复时间序列为:
设方位慢时间对应均匀采样时间:
tm'=[PRI0,2PRI0,3PRI0,…,i·PRI0,…I·PRI0]
得到非均匀采样时间序列和均匀采样时间序列之间的关系:
其中,Δ为相邻采样间隔差值,PRI0为脉冲重复速率,tm'为均匀采样时间序列;
将上述关系式代入斜距表达式,可得:
根据上述斜距表达式构造非线性变标校正矩阵为:
其中hcs为相位补偿因子:
fc表示雷达发射信号的载频,c为电磁波的传播速度,v为雷达平台运动速度,Rb为雷达到场景中心点最近距离。
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