[发明专利]离子化装置性能的评价方法及装置

权利要求书

1.离子化装置性能的评价方法，所述离子化装置性能的评价方法包括以下步骤：

（A1）收集单元设置在所述离子化装置的离子出口和质谱进样口之间，用于收集从所述离子出口出射的离子流的信息；所述收集单元与所述质谱进样口间的距离L₁∈(0,2]mm，所述收集单元与所述离子出口间的距离L₂∈[5,20]mm；所述收集单元为环状或板状，所述收集单元的中心和所述质谱进样口的中心轴线共线；

（A2）检测所述收集单元，多次获得收集单元的电学参数A_i，i=1,2,3…N，N为整数，所述电学参数是电压或电流；

（A3）根据所述电学参数A_i，获得评价参数C；

，；

（A4）根据所述评价参数C，获得所述离子化装置的评价结果：

若所述评价参数CC₀，阈值C₀∈[0.05,0.15]，所述离子化装置不合格；

若所述评价参数C≤C₀，所述离子化装置合格。

2.根据权利要求1所述的离子化装置性能的评价方法，其特征在于，所述离子化装置是直接质谱离子源。

3.离子化装置性能的评价装置，其特征在于，所述离子化装置性能的评价装置包括：

收集单元，所述收集单元适于设置在所述离子化装置的离子出口和质谱进样口之间，用于收集从所述离子出口出射的离子流的信息；所述收集单元与所述质谱进样口间的距离L₁∈(0，2]mm，所述收集单元与所述离子出口间的距离L₂∈[5,20]mm；所述收集单元为环状或板状，所述收集单元的中心和所述质谱进样口的中心轴线共线；

检测单元，所述检测单元检测所述收集单元的电学参数A_i，i=1,2,3…N，N为整数，并传送到计算单元，所述电学参数是电压或电流；

计算单元，所述计算单元根据所述电学参数A_i计算获得评价参数，；

比较单元，所述比较单元用于比较评价参数C和阈值评价参数C₀，阈值C₀∈[0.05,0.15]，比较结果送评价单元；

评价单元，所述评价单元根据所述比较结果输出评价结果；若所述评价参数CC₀，评价结果为不合格，若所述评价参数C≤C₀，评价结果为合格；

输出单元，所述输出单元用于输出所述评价结果。

4.根据权利要求3所述的离子化装置性能的评价装置，其特征在于，所述离子化装置性能的评价装置还包括：

承载单元，所述收集单元设置在所述承载单元上，所述收集单元相对承载单元的距离可调。