[发明专利]一种复合压电基体及其制备方法在审
申请号: | 202110963337.2 | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN113690364A | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
发明(设计)人: | 吴剑波;尹志军;叶志霖;倪荣萍;张虞;李胜雨;许志城 | 申请(专利权)人: | 南京南智先进光电集成技术研究院有限公司 |
主分类号: | H01L41/08 | 分类号: | H01L41/08;H01L41/312 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 210000 江苏省南京市江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 复合 压电 基体 及其 制备 方法 | ||
1.一种复合压电基体,其特征在于,所述复合压电基体包括:釉料层(1)和压电薄膜层(2),其中,所述釉料层(1)由釉料涂覆于所述压电薄膜层(2)而形成。
2.根据权利要求1所述的复合压电基体,其特征在于,
所述釉料层(1)的主要成分为二氧化硅,辅料包括氧化铝、氧化锌和乙基纤维素;和/或
所述釉料层(1)的厚度为2μm~500μm,热膨胀系数为3.0×10-7K-1~8.0×10-6K-1,折射率为1.4~1.7,杨氏模量为5.0×1010Pa(N/m2)~9.0×1010(N/m2),熔融温度为200℃~550℃;和/或
所述釉料层(1)的孔隙率小于0.5%。
3.根据权利要求1或2所述的复合压电基体,其特征在于,所述压电薄膜层(2)键合面的表面粗糙度为0.1nm~5nm。
4.根据权利要求1至3任一项所述的复合压电基体,其特征在于,由键合面至基底面,所述釉料层(1)中组分均匀分布。
5.一种制备权利要求1至4任一项所述复合压电基体的方法,其特征在于,所述方法包括:
步骤1,在压电晶圆表面涂覆釉料;
步骤2,对所述釉料进行平坦化处理并且定型,获得复合压电基体。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,步骤1中所述釉料的主要成分为二氧化硅,辅料包括:氧化铝、氧化锌、乙基纤维素,溶剂包括:酯类和醚类、醇类、烃类化合物中的至少两种;和/或
所述釉料的粘度为50Pa·s~400Pa·s,主要成分为高纯二氧化硅,所述釉料的熔点低于压电晶圆的熔点;
优选地,所述釉料为玻璃浆料,其中,所述玻璃浆料的烧结温度为400℃-550℃,细度小于8μm,粘度为100Pa·s~200Pa·s。
7.根据权利要求5或6所述的方法,其特征在于,在步骤1之前,所述方法还包括:
步骤1-1,在所述压电晶圆的键合面制备准接层;
步骤1-2,对所述准接层进行平坦化处理;
其中,所述准接层由包括至少一个准接子层,每层所述准接子层由金属、金属化合物与无机非金属中的至少一种制备,其中,所述金属包括金、铂、铜、铝、铬、镍等中的至少一种,所述金属化合物包括氮化镓、氧化铝、氮化铝、砷化镓等中的至少一种,所述无机非金属包括二氧化硅、碳化硅、多晶硅以及氮化硅中的至少一种,所述准接层的厚度为0.1nm~10μm,优选为1~3μm。
8.根据权利要求5至7任一项所述的方法,其特征在于,步骤2包括:
对涂覆有所述釉料的压电晶圆加热至釉料溶剂的挥发温度,并保温;
继续升温至釉料熔点,保温后冷却。
9.一种复合压电基体,其特征在于,所述复合压电基体包括:基底层(3)、釉料层(1)和压电薄膜层(2),其中,所述基底层(3)与所述压电薄膜层(2)通过所述釉料层(1)粘结。
10.一种制备复合压电基体的方法,其特征在于,所述方法包括:
步骤1’,在压电晶圆和/或基底材料表面涂覆釉料;
步骤2’,对所述釉料进行平坦化处理获得釉料层;
步骤3’,将基底材料和/或压电晶圆贴合于步骤2’获得的釉料层上,获得压电晶圆-基底材料组合体,加热并向所述压电晶圆-基底材料组合体施加压力,保温保压后冷却。
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