[发明专利]基于黑体辐射源的火焰探测器热干扰试验设备及方法

说明书

本发明公开一种基于黑体辐射源的火焰探测器热干扰试验设备及方法，黑体辐射炉以高度可调节方式设于光学暗箱一侧的辐射炉移动台上，光学暗箱的发射口与黑体辐射炉光输入口之间对接；样品台滑动安装于黑体辐射炉中；步骤为：以黑体辐射炉作为辐射源，将辐射炉发射口与暗箱口对接，黑体辐射沿光轴方向射入暗箱中；将火焰探测器样品安装样品支座上与光轴对齐；样品敏感元件与黑体辐射源之间的距离符合照度条件；如果在指定热干扰严酷等级条件下探测器发生误报警信号或故障信号，则试验结果判定为不符合。本发明弥补了现行火焰探测器国家标准中并没有对探测器抗热干扰性能提出要求的不足，实现不同严酷等级条件下对火焰探测器抗热干扰性能的定量评价。

技术领域

本发明涉及一种消防领域热干扰试验技术，具体为一种基于黑体辐射源的火焰探测器热干扰试验设备及方法。

背景技术

火焰探测器主要通过探测火焰燃烧时产生的光辐射来判断火灾发生，可分为：红外型、紫外型、多波段型。近年来，火焰探测器在隧道、工业、车船、文物保护等领域得到广泛应用，在上述应用环境中，一方面由于火焰探测器自身或其监控范围内物体受日光曝晒后的发热，会对探测器产生热干扰；另一方面，火焰探测器主要应用在具有易燃易爆品的场所，此类场所中的热干扰主要来自于电气设备及管道容器等，电气设备、管道及容器等的自发热，也会对探测器产生热干扰。这些热干扰会对火焰探测器的响应性能会产生一定的影响，可能造成探测器误报警、漏报警甚至导致探测器致盲，而现行火焰探测器国家标准中并没有对探测器抗热干扰性能提出要求。

虽然环境中的热干扰源形式多样、性质不同，但均可以通过此类设施的温度上限要求来估计其可能发出热干扰的作用效果。而目前能满足上述设计思路的估计方法尚未见报道。

发明内容

针对现有技术中热干扰会对火焰探测器的响应性能会产生一定的影响，可能造成探测器误报警、漏报警甚至导致探测器致盲等不足，本发明要解决的技术问题是提供一种基于黑体辐射源的火焰探测器热干扰试验设备及方法，通过对常见热干扰源的分析和等效黑体辐射模拟，实现在不同严酷等级条件下对火焰探测器抗热干扰性能的定量评价。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：

本发明提供一种基于黑体辐射源的火焰探测器热干扰试验设备，包括光学暗箱、黑体辐射炉以及样品台，其中黑体辐射炉以高度可调节方式设于光学暗箱一侧的辐射炉移动台上，光学暗箱的发射口与黑体辐射炉光输入口之间通过遮光罩对接；样品台滑动安装于黑体辐射炉中。

所述光学暗箱的一端设有暗箱口面板、上方折叠挡板以及下方折叠挡板，暗箱口面板上下两端分别通过上方折叠挡板、下方折叠挡板与光学暗箱的端部框架进行软连接；暗箱口面板上设有对齐支架固定孔。

光学暗箱的暗箱口面板的暗箱口处设有斩波器，斩波器为可旋转的扇叶结构，扇叶旋转轴位于黑体辐射源的光轴一侧，扇叶部分通过旋转扫过暗箱口。

所述遮光罩后端与辐射炉的辐射炉发射口固定连接，前端与暗箱口面板对接；遮光罩两侧设有L形的对齐支架，两个对齐支架一端分别固定于遮光罩后端两侧，另一端固定安装于黑体辐射炉的底端的安装板两侧。

本发明还提供一种基于黑体辐射源的火焰探测器热干扰试验方法，包括以下步骤：

1)以黑体辐射炉作为辐射源，使黑体辐射炉发射口与暗箱口面板的位置固定；

2)采用遮光罩将辐射炉发射口与暗箱口对接，黑体辐射沿光轴方向射入暗箱中；

3)将火焰探测器样品安装在高度可调节样品支座上，通过支座的上下调节使样品敏感元件与光轴对齐；

4)通过前后滑动光学轨道上的滑动座在光学滑轨上调节样品敏感元件与黑体辐射源之间的距离，并观察该距离处辐射计的示值，保证样品敏感元件处于试验规定的辐照度条件；