[发明专利]一种基于超分辨成像的雷达散射截面积测量方法有效
申请号: | 202110945011.7 | 申请日: | 2021-08-17 |
公开(公告)号: | CN113671494B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 廖可非;任雯欣;王海涛;欧阳缮;张静;李秀平;施兴相 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | G01S13/89 | 分类号: | G01S13/89;G01S13/88;G01S7/41 |
代理公司: | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 | 代理人: | 陶平英 |
地址: | 541004 广*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 分辨 成像 雷达 散射 截面 测量方法 | ||
1.一种基于超分辨成像的雷达散射截面积测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
1)初始化测量系统参数;
2)获取回波数据:在二维平面上通过阵元的移动,等效合成二维的平面阵列,每个阵元通过发射步进频信号来获得回波数据;
3)三维超分辨成像;
4)提取散射中心:对目标特征提取,输出为ΘG(p'),其中p'表示散射点的位置;
5)反演目标远场RCS,利用公式(1)重建散射场,假设阵元位置p在无穷远处,即|p|→∞:
其中,表示从p'指向p的方向向量,p'∈ROI表示三维空间中感兴趣目标范围内的散射点,k为载波波数,t为距离向快时间;然后利用公式(2),通过快速傅里叶变换将单一频率的散射分离出来,单一频率的分离公式为:
其中,ω表示角频率。
6)计算真实RCS:将标准散射体的散射系数记为放置的位置记为p',其中表示p-p”'的方向,标准体的远场散射场记为通过下述公式(3)计算得到目标的真实RCS:
2.根据权利要求1所述的一种基于超分辨成像的雷达散射截面积测量方法,其特征在于,步骤1)中,所述的初始化测量系统参数,具体包括如下步骤:
1-1)将测量中心频率,记作fc;发射信号频点数,记作N;λ为测量中心频率对应的波长,采用公式λ=c/fc计算,其中c为光速;发射信号带宽记为B;天线阵列中心距离目标中心的距离记为R;
1-2)设置天线阵元间隔为d,虚拟阵列X向阵元数目EX_num,Y向阵元数目EY_num,确定EX_num×EY_num的均匀分布虚拟全阵列;
1-3)根据阵元间隔和阵元数目,采用公式Lx=d*EX_num得到X方向的等效阵列长度,采用公式Ly=d*EY_num得到Y方向的等效阵列长度;
1-4)待测目标水平方位向分辨率指标,采用公式记作ρx;待测目标垂直方位向分辨率指标,采用公式记作ρy;待测目标距离向分辨率指标,采用公式记作ρz;
1-5)对目标场景进行离散化处理,水平方位向,记为X;垂直方位向,记为Y,距离向,记为Z,X向、Y向和Z向对应的离散点数目分别为Nx、Ny和Nz,根据需求确定超分辨成像需要提高的分辨率倍数ax,ay,az,由传统分辨率ρx,ρy,ρz来确定每个目标场景坐标轴对应的离散点间距
3.根据权利要求1所述的一种基于超分辨成像的雷达散射截面积测量方法,其特征在于,步骤3)中,所述的三维超分辨成像,具体包括如下步骤:
3-1)定义一个大小为N×EX_numEY_num的矩阵M,其元素为在(0,1)范围内均匀分布的随机数,并且筛选出产生的随机数大于0.91的元素,将对应位置置为1;
3-2)对矩阵M元素求和,得到一个1×EX_numEY_num的列向量记为D,表示每个阵元所选用的稀疏频率的个数,对向量D再求和,即为稀疏采样的个数Num;
3-3)初始化矩阵Msense为零矩阵,大小为Num×NxNyNz;
3-4)遍历矩阵M,判断如果矩阵M中元素为1时,取出对应位置(i,j)的距离频谱数据,存入向量Q中,Q大小为Num×1,并根据j,表示阵元的X坐标与Y坐标;
3-5)遍历目标场景,获得目标点的坐标,Rmn表示第m个阵元与第n个目标点之间的距离,将获得的回波数据信号存储在矩阵Msense中,表达式为
其中是一个列向量,表示第m个阵元的所有N个频点对于第n个目标点的相位;
3-6)根据得到的回波数据信号,利用正交匹配追踪算法对信号进行重构,即完成三维超分辨成像。
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