[发明专利]一种线结构光扫描仪标定方法、装置及存储介质有效
| 申请号: | 202110931856.0 | 申请日: | 2021-08-13 |
| 公开(公告)号: | CN113686262B | 公开(公告)日: | 2022-10-11 |
| 发明(设计)人: | 高兴宇;李伟明;胡增;尹炳强;韦传嫩 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
| 主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 姚晓丽 |
| 地址: | 541004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 结构 扫描仪 标定 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种线结构光扫描仪标定方法,其特征在于,包括如下步骤:
导入扫描仪相机内参矩阵和畸变系数,所述扫描仪相机内参矩阵和所述畸变系数均通过对扫描仪装置进行标定得到;
通过所述扫描仪装置得到多个光条图像和多个标定板图像,并根据所述扫描仪相机内参矩阵和所述畸变系数分别对各个所述光条图像进行光条图像的去畸变处理,得到与各个所述光条图像对应的光条去畸变图像,所述标定板图像为控制工作台作步进运动,每次运动停止后,打开外部光源,控制相机采集的图像,所述光条图像为关闭所述外部光源,并打开线激光器,控制所述相机拍摄同一位姿下投射有光条的图像;
根据所述扫描仪相机内参矩阵和所述畸变系数分别对各个所述标定板图像进行标定板图像的去畸变处理,得到与各个所述标定板图像对应的标定板去畸变图像;
对所述扫描仪相机内参矩阵、多个所述光条去畸变图像和多个所述标定板去畸变图像进行光平面的标定分析,得到标定结果。
2.根据权利要求1所述的线结构光扫描仪标定方法,其特征在于,所述对所述扫描仪相机内参矩阵、多个所述光条去畸变图像和多个所述标定板去畸变图像进行光平面的标定分析,得到标定结果的过程包括:
通过多个所述光条去畸变图像和多个所述标定板去畸变图像构建二维数组,得到二维数组;
对所述二维数组进行第一消隐点的分析得到第一消隐点;
对所述二维数组进行第二消隐点的分析得到第二消隐点;
通过第一式对所述第一消隐点、所述第二消隐点和所述扫描仪相机内参矩阵进行方向向量的计算,得到光条方向向量和平行直线方向向量,所述第一式为:
其中,
其中,DL为光条方向向量,D2为平行直线方向向量,K为扫描仪相机内参矩阵,V1为第一消隐点齐次坐标,V2为第二消隐点齐次坐标,为第一消隐点x轴坐标,为第一消隐点y轴坐标,为第二消隐点x轴坐标,为第二消隐点y轴坐标;
通过第二式对所述光条方向向量和所述平行直线方向向量进行光平面法向量的计算,得到光平面法向量,所述第二式为:
n1=DL×D2,
其中,n1为光平面法向量,DL为光条方向向量,D2为平行直线方向向量;
对所述二维数组进行第三消隐点的分析得到第三消隐点;
通过第三式对所述第三消隐点和所述扫描仪相机内参矩阵进行标定板Y轴方向向量的计算,得到标定板Y轴方向向量,所述第三式为:
其中,VY为第三消隐点齐次坐标,v′x为第三消隐点x轴坐标,v′y为第三消隐点y轴坐标,K为扫描仪相机内参矩阵,DY为标定板Y轴方向向量;
通过第四式对所述标定板Y轴方向向量和所述光条方向向量进行光条截线段实际长度的计算,得到光条截线段实际长度,所述第四式:
其中,dL为光条截线段实际长度,db为预设靶标的方格尺寸,DY为标定板Y轴方向向量,DL为光条方向向量;
对所述光平面法向量、所述二维数组、所述光条截线段实际长度和所述扫描仪相机内参矩阵进行光平面方程的计算,得到光平面方程,并将所述光平面方程作为标定结果。
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