[发明专利]一种基于残差特征聚合注意块的图像去马赛克方法在审
申请号: | 202110911894.X | 申请日: | 2021-08-10 |
公开(公告)号: | CN113793262A | 公开(公告)日: | 2021-12-14 |
发明(设计)人: | 孙帮勇;魏凌云 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | G06T3/40 | 分类号: | G06T3/40;G06K9/46;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 王奇 |
地址: | 710048 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 特征 聚合 注意 图像 马赛克 方法 | ||
1.一种基于残差特征聚合注意块的图像去马赛克方法,其特征在于,按照以下步骤具体实施:
步骤1,构建绿通道恢复网络,该绿通道恢复网络的输入为Bayer滤光片阵列采样后的raw图,输出为重建的绿通道图;
步骤2,构建红通道恢复网络,输入为红采样图和重建的绿通道图,输出为重建的红通道图;
步骤3,构建蓝通道恢复网络;
步骤4,将重建得到的红通道图、绿通道图和蓝通道图融合成重建的RGB图;
步骤5,计算重建的RGB图与相对应的真实图像之间的平均绝对误差,以最小化L1损失函数为目标,优化该网络模型。
2.根据权利要求1所述的基于残差特征聚合注意块的图像去马赛克方法,其特征在于,在步骤1中,所述的绿通道恢复网络由级联的残差特征聚合注意块组成,绿通道恢复网络结构依次为:raw图作为输入→第一个卷积层Conv1→第二个卷积层Conv2→残差特征聚合注意块1→第二个卷积层Conv2的输出与残差特征聚合注意块1的输出在维度为1上进行拼接操作→第三个卷积层Conv3→残差特征聚合注意块2→上一个拼接操作的输出与残差特征聚合注意块2的输出在维度为1上进行拼接操作→第四个卷积层Conv4→残差特征聚合注意块3→上一个拼接操作的输出与残差特征聚合注意块3的输出在维度为1上进行拼接操作→第五个卷积层Conv5→第二个卷积层Conv2的输出与第五个卷积层Conv5的输出按元素进行加法操作→第六个卷积层Conv6→第七个卷积层Conv7→输出重建的绿通道图;其中,Conv1卷积核大小为1×1,步长为1,特征映射总数为3个;Conv2卷积核大小为3×3,步长为3,特征映射总数为64个;Conv3、Conv4和Conv5卷积核大小均为3×3,步长均为3,特征映射总数均为64个,并且均通过ReLU激活;Conv6卷积核大小为3×3,步长为3,特征映射总数为3个;Conv7卷积核大小为1×1,步长为1,特征映射总数为1个;
所述的残差特征聚合注意块的结构依次为:输入→残差块1→残差块2→残差块3→第一个卷积层Conv1→最初输入与Conv1输出按元素进行加法操作→第二个卷积层Conv2→多尺度注意块→最初输入与多尺度注意块的输出按元素进行加法操作→输出;其中,残差块1、残差块2和残差块3的结构均相同,其结构见下文;Conv1的作用是将三个残差块的输出进行合并,输入为三个残差块的输出,卷积核大小为1×1,步长为1,特征映射总数均为64个;Conv2卷积核大小为3×3,步长为3,特征映射总数为64个,并通过ReLU激活;
所述的残差块的结构依次为:输入→第一个卷积层Conv1→第二个卷积层Conv2→最初的输入与Conv2的输出按元素进行加法操作→输出;其中,Conv1和Conv2卷积核大小均为3×3,步长均为3,特征映射总数均为64个,并且均通过ReLU激活;
所述的多尺度注意块的结构依次为:输入→自适应平均池化→并行通过三个膨胀卷积层提取特征,包括Conv1、Conv2、Conv3→将三个卷积层的输出在维度为1上进行拼接操作→第四个卷积层Conv4→最初输入与Conv4的输出按元素进行相乘操作→输出;其中,Conv1的卷积核大小为3×3,步长为3,特征映射总数为4个,膨胀率为3,并通过ReLU激活;Conv2的卷积核大小为3×3,步长为3,特征映射总数为4个,膨胀率为5,并通过ReLU激活;Conv3的卷积核大小为3×3,步长为3,特征映射总数为4个,膨胀率为7,并通过ReLU激活;Conv4的卷积核大小为3×3,步长为3,特征映射总数为64个,并通过Sigmoid激活函数得到多尺度特征的权重。
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