[发明专利]触控显示装置及其测试方法

说明书

一种触控显示装置及其测试方法。触控显示装置包括显示模组以及触控模组。触控模组与显示模组相连接，且包括触控基板、第一触控电极、第二触控电极、第一触控走线、第二触控走线、第一开关单元及第二开关单元。触控显示装置的测试方法包括：将第一漏极短接；将短接后的第一漏极与第一测试焊盘电性连接；将第二漏极短接；将短接后的第二漏极与第二测试焊盘电性连接；以开关信号使第一栅极及第二栅极导通；以及测试第一测试焊盘及第二测试焊盘之间是否产生短路。

技术领域

本申请涉及触控显示技术领域，特别是一种触控显示装置及其测试方法。

背景技术

于触控面板中，触控走线如果在垫弯区域(pad bending area)下方通过换线后再走线到显示两侧，会产生大量的触控走线。然而，该些触控走线由于过于密集，且数量多，因此难以测试。

特别是，以自容式且具有触控与显示驱动集成(touch and display driverintegration,TDDI)芯片的产品而言，垫弯区域中间位置的触控走线没有办法进行测试，因而无法监控制作过程中是否出现问题。

因此，需要一种触控显示装置及其测试方法，以解决现有技术存在的问题。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请提供一种触控显示装置及其测试方法中。于本申请中，通过将多个第一开关单元分别与多个第一触控走线电性连接；将多个第二开关单元分别与多个第二触控走线电性连接；将短接后的多个第一漏极与第一测试焊盘电性连接；及将短接后的多个第二漏极与第二测试焊盘电性连接，可进行走线的检测以检测上述技术问题。特别是，本申请可检测弯折至面板背面且与触控显示芯片绑定的垫弯区域上的走线是否异常。

基于上述目的，本申请提供一种触控显示装置。触控显示装置包括显示模组以及触控模组。触控模组与显示模组相连接，且包括触控基板、多个第一触控电极、多个第二触控电极、多个第一触控走线、多个第二触控走线、多个第一开关单元及多个第二开关单元。多个第一触控电极沿第一方向排列成多个直行设置所触控基板上。多个第二触控电极沿第二方向排列成多个横列设置触控基板上，且多个第二触控电极与多个第一触控电极交错设置。多个第一触控走线分别与多个第一触控电极及多个第二触控走线的一部份电性连接。多个第二触控走线分别与多个第一触控电极及多个第二触控走线的另一部份电性连接。多个第一开关单元分别与多个第一触控走线电性连接，且包括多个第一栅极、多个第一源极及多个第一漏极。多个第二开关单元分别与多个第二触控走线电性连接，且包括多个第二栅极、多个第二源极及多个第二漏极。多个第一栅极及所述多个第二栅极接收开关信号。

优选地，触控基板为柔性触控基板。

优选地，触控模组更包括多个资料走线，多个资料走线与显示模组电性连接。

优选地，本申请之触控显示装置更包含触控显示芯片，与显示模组及触控模组电性连接。

优选地，触控显示芯片依据多个横列上的多个第一触控电极及多个直行上的多个第二触控电极的变化量运算产生触摸座标资料。

优选地，触控显示芯片依据相邻的多个第一触控电极及多个第二触控电极之间的电容变化量运算产生触摸座标资料。

基于上述目的，本申请再提供一种触控显示装置的测试方法，用以测试上述的触控显示装置，包括：

将多个第一漏极短接；

将短接后的多个第一漏极与第一测试焊盘电性连接；

将多个第二漏极短接；

将短接后的多个第二漏极与第二测试焊盘电性连接；

以开关信号使多个第一栅极及多个第二栅极导通；以及

测试第一测试焊盘及第二测试焊盘之间是否产生短路。