[发明专利]测试流程的配置方法、装置、存储介质及设备

权利要求书

1.一种测试流程的配置方法，其特征在于，所述测试流程为在半导体产品测试中区别于主测试流程的测试流程，所述测试流程的配置方法包括：

确定半导体产品的至少一个测试项目；

获取所述测试项目相应的第一测试模板，所述第一测试模板中包括预设测试参数；

显示所述预设测试参数；

接收根据所述预设测试参数调整后的测试参数；

根据调整后的测试参数，配置所述测试项目的当前测试参数；

根据所述测试项目的当前测试参数，形成半导体产品的测试流程。

2.根据权利要求1所述的测试流程的配置方法，其特征在于，所述测试流程所确定的测试项目与所述主测试流程中的预设测试项目相同或者不同。

3.根据权利要求1所述的测试流程的配置方法，其特征在于，所述测试流程的切入位置和切出位置被配置为所述主测试流程中相同或不同的位置。

4.根据权利要求1所述的测试流程的配置方法，其特征在于，所述测试流程的切入位置和切出位置按照如下方式中的一种配置：

所述测试流程的切入位置为所述主测试流程中的第n个预设测试项目之前，切出位置为所述主测试流程中的第n+m个预设测试项目之前或之后；

或者，

所述测试流程的切入位置为所述主测试流程中的第n个预设测试项目之后，切出位置为所述主测试流程中的第n+m个预设测试项目之后；

其中，n为大于或等于1的整数，m为大于或等于0的整数。

5.根据权利要求1-4任一所述的测试流程的配置方法，其特征在于，所述配置方法还包括：

根据所述测试项目的当前测试参数生成第二测试模板；

确定所述第二测试模板中的测试参数是否与已存储测试模板中的测试参数相同；

如果否，存储所述第二测试模板。

6.根据权利要求5所述的测试流程的生成方法，其特征在于，所述测试流程的配置方法还包括：

生成所述第二测试模板的相关信息。

7.根据权利要求6所述的测试流程的配置方法，其特征在于，生成所述第二测试模板的相关信息包括下述中的一种或多种：

与所述测试流程标识信息；

与所述测试流程的量测相关信息；

与所述测试流程中所述测试项目相关信息；

与所述测试流程中用户选择相关信息；

与所述主测试流程相关信息。

8.根据权利要求1所述的测试流程的配置方法，其特征在于，所述测试流程的配置方法还包括：

根据半导体产品的类型和所述测试项目，确定符合半导体产品的类型的测试要求的所述第一测试模板。

9.根据权利要求1所述的测试流程的配置方法，其特征在于，当所述测试项目为多个时，所述显示所述预设测试参数包括：

按照半导体产品的测试流程中测试项目的顺序，依次显示每个测试项目对应的所述预设测试参数；

所述根据调整后的测试参数，配置所述测试项目的当前测试参数包括：

根据每个测试项目的调整后的测试参数，依次配置每个测试项目对应的当前测试参数。

10.根据权利要求9所述的测试流程的配置方法，其特征在于，多个所述测试项目相同或者不同。

11.根据权利要求1所述的测试流程的配置方法，其特征在于，所述测试流程的配置方法还包括：

根据测试项目和所述测试项目的测试参数，建立测试模板；

存储所述测试模板。

12.根据权利要求1所述的测试流程的配置方法，其特征在于，所述测试参数包括测试环境相关测试参数、半导体产品相关测试参数和/或半导体产品的测试设备相关参数。