[发明专利]一种绝缘毯微缺陷识别装置在审
| 申请号： | 202110812513.2 | 申请日： | 2021-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN113686869A | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 李文飞;周军伟;来轶;丁洪 | 申请（专利权）人： | 浙江中新电力工程建设有限公司配电分公司;国网浙江杭州市萧山区供电有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 | 代理人： | 秦晓刚 |
| 地址： | 311200 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 绝缘 缺陷 识别 装置 | ||
1.一种绝缘毯微缺陷识别装置，其特征在于，包括：
图像采集单元，用于采集绝缘毯的图像；
照明单元，在图像采集单元进行图像采集时提供照明；
图像处理单元，所述图像处理单元首先对采集的图像进行滤波处理，然后将图像二值化，最后通过Blob分析标记图像中灰度突变的连通区域，并提取这些区域的特征，使取样的绝缘毯中存在的缺陷的位置及其像素大小被标示出来；
图像输出单元，将标记有缺陷位置和像素大小的绝缘毯图像输出显示。
2.根据权利要求1所述的一种绝缘毯微缺陷识别装置，其特征在于：所述图像采集单元采用大于500万像素的CMOS千兆以太网工业面阵相机。
3.根据权利要求1所述的一种绝缘毯微缺陷识别装置，其特征在于：进行滤波处理的方法包括高斯滤波、中值滤波、均值滤波和双边滤波。
4.据权利要求1所述的一种绝缘毯微缺陷识别装置，其特征在于：采用Niblack算法、Sauvola算法、Singh算法或者Bersen算法进行图像二值化。
5.据权利要求1所述的一种绝缘毯微缺陷识别装置，其特征在于：Blob分析的方法为：
设预处理后的二值图像I(x，y)完全分割为n个子区域Ii(x，y)，这n个子区域包括n1个Blob和一个背景，I和Ii的关系满足：
用矩来描述Blob区域的形状特性，对一个Blob区域，其(m，n)阶矩为：
Blob区域的面积心Area，即图像的零阶矩：
Blob区域的形心坐标Centroid(xc,yc)：
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江中新电力工程建设有限公司配电分公司;国网浙江杭州市萧山区供电有限公司，未经浙江中新电力工程建设有限公司配电分公司;国网浙江杭州市萧山区供电有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110812513.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
