[发明专利]一种硅基底的处理方法、太阳能电池及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202110784527.8 申请日: 2021-07-12
公开(公告)号: CN115621355A 公开(公告)日: 2023-01-17
发明(设计)人: 童洪波;李华;刘继宇 申请(专利权)人: 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/02
代理公司: 北京知迪知识产权代理有限公司 11628 代理人: 付珍;王胜利
地址: 225300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基底 处理 方法 太阳能电池 及其 制作方法
【说明书】:

发明公开一种硅基底的处理方法、太阳能电池及其制作方法,涉及光伏技术领域,以便于去除硅基底表面携带的杂质、脏污。该硅基底的处理方法包括如下步骤:提供一硅基底,该硅基底具有相对的第一面和第二面;第一面具有层叠的第一氧化层、镀膜工艺绕镀产生的绕隧穿层和绕非晶硅层;采用第一湿法去除工艺去除硅基底的绕非晶硅层;保持去除绕非晶硅层的硅基底始终处于湿润状态,采用第二湿法去除工艺去除第一氧化层和绕隧穿层。本发明提供的硅基底的处理方法、太阳能电池及其制作方法用于太阳能电池制造。

技术领域

本发明涉及光伏技术领域,尤其涉及一种硅基底的处理方法、太阳能电池及其制作方法。

背景技术

在太阳能电池的制作过程中,往往有多个工序为去除工艺。例如,制作pn结所产生的氧化层,制作钝化接触结构所产生的绕镀层,均需要通过去除工艺去除。

先去除绕镀层,后去除氧化层的过程中,在先的去除工艺容易在硅基底上形成残留物。这些硅基底上的残留物去除难度较大,会影响硅基底质量和工作效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种硅基底的处理方法、太阳能电池及其制作方法,以便于去除硅基底表面携带的残留物。

第一方面,本发明提供一种硅基底的处理方法。该硅基底的处理方法包括如下步骤:

提供一硅基底,该硅基底具有相对的第一面和第二面;第一面具有层叠的第一氧化层、镀膜工艺绕镀产生的绕隧穿层和绕非晶硅层;

采用第一湿法去除工艺去除硅基底的绕非晶硅层;

保持去除绕非晶硅层的硅基底始终处于湿润状态,采用第二湿法去除工艺去除第一氧化层和绕隧穿层。

采用上述技术方案时,采用第一湿法去除工艺去除硅基底的绕非晶硅层、采用第二湿法去除工艺去除第一氧化层和绕隧穿层的过程中,以及第一湿法去除工艺和第二湿法去除工艺之间,保持去除绕非晶硅层的硅基底始终处于湿润状态。此时,硅基底的表面具有较多的水分。当经过第一湿法去除工艺去除绕非晶硅层后,硅基底携带杂质、脏污时,这些杂质、脏污与硅基底表面的水分混合在一起,处于游离状态,从而可以避免杂质、脏污干化后牢固的附着在硅基底表面。在后续的第二湿法去除工艺或其他清洗工艺中,处于游离状态且湿润的杂质、脏污可以较容易的被冲走,清洗干净。基于此,在硅基底的处理过程中,保持去除绕非晶硅层的硅基底始终处于湿润状态,便于清洗硅基底表面的杂质、脏污,进而可以提高硅基底的清洁程度,提高硅基底的处理效率和硅基底的质量。

与现有技术中,在第一湿法去除工艺和第二湿法去除工艺之间,进行HF清洗、水洗和吹干相比,本发明的硅基底的处理方法,一方面,省略了HF清洗、水洗和吹干的工序,工艺简单,生产成本较低。另一方面,可以避免吹干工艺中干掉的杂质、脏污牢固附着在硅基底的情况,使得硅基底表面的杂质、脏污便于清洗。

在一些实现方式中,上述第一湿法去除工艺的设备为链式单面去除设备,链式单面去除设备选自滚轮式单面刻蚀设备、履带式单面刻蚀设备。此时,链式单面去除设备,可以对硅基底进行单面处理,仅去除硅基底第一面的绕非晶硅层,不对硅基底的第二面进行处理,从而可以较好的保护硅基底第二面的半导体结构。

在一些实现方式中,上述第一湿法去除工艺的设备为浸没式刻蚀槽。

在一些实现方式中,上述第一湿法去除工艺的刻蚀剂为碱性溶液,其中,碱性溶液包括KOH、NaOH或有机碱试剂中的至少一种。此时,碱性溶液能与非晶硅材料进行化学反应,从而可以去除绕非晶硅层。与此同时,碱性溶液不与氧化物材料反应,或与氧化物材料反应极慢,可以避免第一湿法去除工艺对硅基底第一面和第二面pn结及功能性结构的破坏。与硝酸等酸性刻蚀剂相比,碱性溶液不仅价格较低,而且废水处理成本较低,可以降低生产成本。

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