[发明专利]提升检测精度的电路测试装置和方法

说明书

本发明提供了提升检测精度的电路测试装置和方法。晶圆测试接口通过一控制信号来控制测试模式控制逻辑模块；测试模式控制逻辑模块根据控制信号控制切换模块选择将基准信号还是检测模块的输出传送到检测输出端；在初始晶圆测试时，切换模块选择将基准信号传到检测输出端进行测试；若基准信号与零温度点基准信号有误差，则对基准信号进行档位调节，直至调节为零温度点基准信号，随后控制切换模块选择将检测模块的输出与检测输出端连接；检测模块将待测信号与经档位调节后所得到的零温度点基准信号进行比较，测得检测阈值的初始值；其中，对所述基准信号的档位调节以及对所述检测阈值的初始值的修调通过单次烧写熔丝同时实现。

技术领域

本发明涉及IC设计领域，尤其涉及提升IC检测精度的方法。

背景技术

集成电路中经常需要对电压或电流进行检测。出于低成本、低功耗的考虑，某些应用无法采用模数转换(ADC)做检测，也无法采用flash、MTP、OTP等调节检测阈值。比如，在锂电池保护应用中，过压保护的实现方式一般是将电池电压直接与片内的参考电压进行比较，因此参考电压的温度系数决定了过压保护阈值的全温度精度，而过压保护阈值的调节则通过烧写熔丝(fuse)完成。实际量产时为了避免多次烧写熔丝带来的产能限制以及测试成本的增加，锂电池保护一般只会对过压保护阈值进行烧写熔丝修调，不会对参考电压的零温度点进行修调。所以，当工艺发生工艺角(Corner)变异或者电路器件的随机失配变大时，不修调零温度点就会导致参考电压的温度系数变差，从而降低过压保护阈值的全温度精度。

发明内容

本发明公开了一种提升检测精度的低成本设计与测试方法，适用于任何采用熔丝烧写来修调检测阈值的系统，解决了单次熔丝烧写无法进一步提升检测精度的问题，增加的晶圆与测试成本几乎可以忽略。

本发明提供了一种提升检测精度的电路测试装置，所述电路测试装置包括待测信号输入端、检测输出端、晶圆测试接口(CP PAD)、测试模式控制逻辑模块、基准信号产生模块、检测模块、切换模块。

所述晶圆测试接口被配置成通过一控制信号来控制所述测试模式控制逻辑模块。

所述测试模式控制逻辑模块根据所述控制信号控制所述切换模块选择将所述基准信号产生模块的输出还是所述检测模块的输出传送到所述检测输出端；在初始晶圆测试时，所述测试模式控制逻辑模块控制所述切换模块选择将所述基准信号产生模块的输出传到所述检测输出端进行测试，以判断是否需要对所述基准信号产生模块输出的基准信号进行档位调节；若所述基准信号与零温度点基准信号有误差，则所述测试模式控制逻辑模块受来自所述晶圆测试接口的控制信号的控制，对所述基准信号产生模块的基准信号进行档位调节直至输出的基准信号为零温度点基准信号，并随后控制所述切换模块选择将所述检测模块的输出与所述检测输出端连接。

所述待测信号输入端向所述检测模块输入待测信号。

所述检测模块将所述待测信号与所述基准信号产生模块所输出的经档位调节后所得到的零温度点基准信号进行比较，测得检测阈值的初始值。

其中，对所述基准信号的档位调节以及对所述检测阈值的初始值的修调通过单次烧写熔丝同时实现。

在一个实施例中，所述测试模式控制逻辑模块被配置成在烧写熔丝结束后失效。

在一个实施例中，所述切换模块在所述测试模式控制逻辑模块失效后固定切换成将所述检测模块的输出与所述检测输出端连接。

在一个实施例中，所述单次烧写熔丝包括将所述基准信号的档位通过烧写熔丝固定到所述基准信号产生模块中，并同时对所述检测模块的检测阈值的初始值通过该次烧写熔丝进行修调。

在一个实施例中，所述晶圆测试接口只是在晶圆测试阶段所引入的端口，最终不封装成芯片引脚。

在一个实施例中，所述控制信号包括电平、方波脉冲或者时钟频率信号。