[发明专利]提升检测精度的电路测试装置和方法

权利要求书

1.一种提升检测精度的电路测试装置，其特征在于，所述电路测试装置包括待测信号输入端、检测输出端、晶圆测试接口(CP PAD)、测试模式控制逻辑模块、基准信号产生模块、检测模块、切换模块；

所述晶圆测试接口被配置成通过一控制信号来控制所述测试模式控制逻辑模块；

所述测试模式控制逻辑模块根据所述控制信号控制所述切换模块选择将所述基准信号产生模块的输出还是所述检测模块的输出传送到所述检测输出端；在初始晶圆测试时，所述测试模式控制逻辑模块控制所述切换模块选择将所述基准信号产生模块的输出传到所述检测输出端进行测试，以判断是否需要对所述基准信号产生模块输出的基准信号进行档位调节；若所述基准信号与零温度点基准信号有误差，则所述测试模式控制逻辑模块受来自所述晶圆测试接口的控制信号的控制，对所述基准信号产生模块的基准信号进行档位调节直至输出的基准信号为零温度点基准信号，并随后控制所述切换模块选择将所述检测模块的输出与所述检测输出端连接；

所述待测信号输入端向所述检测模块输入待测信号；

所述检测模块将所述待测信号与所述基准信号产生模块所输出的经档位调节后所得到的零温度点基准信号进行比较，测得检测阈值的初始值；

其中，对所述基准信号的档位调节以及对所述检测阈值的初始值的修调通过单次烧写熔丝同时实现。

2.如权利要求1所述的提升检测精度的电路测试装置，其特征在于，所述测试模式控制逻辑模块被配置成在烧写熔丝结束后失效。

3.如权利要求2所述的提升检测精度的电路测试装置，其特征在于，所述切换模块在所述测试模式控制逻辑模块失效后固定切换成将所述检测模块的输出与所述检测输出端连接。

4.如权利要求1所述的提升检测精度的电路测试装置，其特征在于，所述单次烧写熔丝包括将所述基准信号的档位通过烧写熔丝固定到所述基准信号产生模块中，并同时对所述检测模块的检测阈值的初始值通过该次烧写熔丝进行修调。

5.如权利要求1所述的提升检测精度的电路测试装置，其特征在于，所述晶圆测试接口只是在晶圆测试阶段所引入的端口，最终不封装成芯片引脚。

6.如权利要求1所述的提升检测精度的电路测试装置，其特征在于，所述控制信号包括电平、方波脉冲或者时钟频率信号。

7.一种提升检测精度的电路测试方法，其特征在于，所述方法包括：

通过晶圆测试接口(CP PAD)提供控制信号，并输入至测试模式控制逻辑模块；

在初始晶圆测试时，所述晶圆测试接口通过所述测试模式控制逻辑模块控制切换模块选择将基准信号产生模块的输出传送到检测输出端进行测试；

若所述基准信号产生模块输出的基准信号与零温度点基准信号有误差，则所述测试模式控制逻辑模块受晶圆测试接口控制对所述基准信号产生模块所输出的基准信号进行档位调节直至输出的基准信号为零温度点基准信号；

在档位调节至所述零温度点基准信号后，所述晶圆测试接口通过所述测试模式控制逻辑模块控制所述切换模块选择将检测模块的输出与所述检测输出端相连；

所述检测模块将待测信号与所述零温度点基准信号进行比较，从而测得检测阈值的初始值；

通过单次烧写熔丝实现同时对所述基准信号的档位调节以及对所述检测阈值的初始值的修调。

8.如权利要求7所述的提升检测精度的电路测试方法，其特征在于，还包括：

在烧写熔丝结束后，令所述测试模式控制逻辑模块失效。

9.如权利要求8所述的提升检测精度的电路测试方法，其特征在于，还包括：

在所述测试模式控制逻辑模块失效后，所述切换模块固定切换成将所述检测模块的输出与所述检测输出端连接。

10.如权利要求7所述的提升检测精度的电路测试方法，其特征在于，所述单次烧写熔丝包括将所述基准信号的档位通过烧写熔丝固定到所述基准信号产生模块中，并同时对所述检测模块的检测阈值的初始值通过该次烧写熔丝进行修调。