[发明专利]一种提取数据特征的方法和相关装置有效

专利信息
申请号: 202110761751.5 申请日: 2020-06-30
公开(公告)号: CN113919479B 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 韩凯;王云鹤;许春景 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06N3/04 分类号: G06N3/04;G06N3/08;G06N3/063;G06V10/82
代理公司: 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 代理人: 张卉;王君
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 提取 数据 特征 方法 相关 装置
【权利要求书】:

1.一种提取数据特征的方法,其特征在于,包括:

读取第一权重参数,所述第一权重参数中包含目标神经网络中用于提取目标特征的网络参数;

根据所述第一权重参数确定第二权重参数,所述第二权重参数为所述第一权重参数经过第一量化处理得到的参数,所述第一量化处理为所述第一权重参数除以第一量化参数取整,所述第二权重参数包含M*N个参数,M和N为正整数;

读取初始待提取特征数据;

根据所述初始待提取特征数据确定第一待提取特征数据,所述第一待提取特征数据包含M*N个数据,所述M*N个数据与所述M*N个参数一一对应;

使用目标处理器,对所述第二权重参数和所述第一待提取特征数据进行加法卷积运算,得到第一特征数据,所述加法卷积运算包括:计算所述M*N个参数中每个参数与对应数据的差值的绝对值,得到M*N个绝对值;计算所述M*N个绝对值的总和;将所述绝对值的总和乘以所述第一量化参数;

所述目标处理器包括运算电路,所述运算电路包含第一子电路和第二子电路,所述第一子电路包含M*N个运算单元,所述M*N个运算单元与所述M*N个参数和所述M*N个数据分别一一对应;

所述M*N个运算单元中的每个运算单元用于计算对应参数与对应数据的差值的绝对值;

所述第二子电路用于计算和输出所述M*N个运算单元中所有运算单元输出的绝对值的总和,所述总和用于获取所述第一待提取特征数据中的所述目标特征的特征数据。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:第一待提取特征数据为所述初始待提取特征数据进行第二量化处理得到的数据,其中第二量化处理为所述初始待提取特征数据除以所述第一量化参数取整。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述运算电路还包括乘法器,

所述乘法器用于计算所述绝对值的总和与所述第一量化参数的乘积。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述每个运算单元包含第一输入端口、第二输入端口、加法器、比较器、选择器和输出端口;

对于所述每个运算单元,第一输入端口用于输入所述对应参数,第二输入端口用于输入所述对应数据;加法器用于计算和输出所述对应参数减去所述对应数据得到的第一差值和所述对应数据减去所述对应参数得到的第二差值;比较器用于比较所述对应参数和所述对应数据的大小,并在所述对应参数大于所述对应数据时输出第一比较结果,在所述对应数据大于或等于所述对应参数时输出第二比较结果;选择器用于在输入所述第一比较结果时输出所述第一差值,在输入所述第二比较结果时输出所述第二差值;输出端口用于输出所述选择器的输出。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述目标处理器还包括与所述运算电路连接的第一存储器、第二存储器和控制器;

所述第一存储器用于存储参数矩阵;

所述第二存储器用于存储数据矩阵;

所述控制器用于执行指令,使得:所述对应参数输入所述每个运算单元的第一输入端口,所述对应数据输入所述每个运算单元的第二输入端口,所述每个运算单元的加法器计算所述第一差值和所述第二差值,所述每个运算单元的比较器对所述对应数据和所述对应参数进行比较并输出第一比较结果或第二比较结果,所述每个运算单元的选择器在所述每个运算单元的比较器输出所述第一比较结果时输出所述第一差值以及在所述每个运算单元的比较器输出所述第二比较结果时输出所述第二差值,所述第二子电路计算并输出M个运算组中所有运算单元输出的差值的总和。

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